[发明专利]一种井眼校正的系统及方法

权利要求书

1.一种井眼校正的系统，包括仪器测量装置和井眼校正装置，其特征在于，所述井眼校正装置包括：初级数据处理模块和井眼校正模块；

所述初级数据处理模块，用于接收阵列感应测量信号并对所述阵列感应测量信号进行趋肤效应校正的初级处理，获得趋肤效应校正测量数据，并将所述趋肤效应校正测量数据发送至井眼校正模块；

所述井眼校正模块，用于接收所述趋肤效应校正测量数据；根据所述趋肤效应校正测量数据进行分辨率匹配处理，获得分辨率匹配处理数据；根据所述分辨率匹配处理数据计算获得阵列对应的井眼环境数据并根据所述阵列对应的井眼环境数据计算获得井眼校正的数据；

所述井眼校正模块包括：分辨率匹配单元、地层初始模型估算单元、井眼校正库单元、井眼环境ARRAY1计算单元、井眼环境ARRAYX计算单元和井眼环境校正单元；其中，

所述分辨率匹配单元，用于接收并对所述趋肤效应校正测量数据进行分辨率匹配处理，获得匹配数据；将所述匹配数据发送至所述地层初始模型估算单元、所述井眼环境ARRAY1计算单元和所述井眼环境ARRAYX计算单元中；

所述地层初始模型估算单元，用于接收匹配数据，通过多项式拟合多个分辨率匹配数据和对应子阵列的探测深度，得到方程σt(r)，另外，通过反复数值实验设定对应子阵列ARRAY1的径向深度rARRAY1，通过对数值试验分析，选定径向深度点rARRAY1的σt(rARRAY1)为第一子阵列ARRAY1的井眼环境中的地层电导率值，通过仪器测量获得所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境中的三个参数中的任意两个参数，将所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境中的至少三个参数发送至所述井眼环境ARRAY1计算单元中；

所述井眼环境ARRAY1计算单元，用于接收所述匹配数据和所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境中的至少三个参数；根据所述匹配数据、所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境中的至少三个参数并调用所述井眼校正库单元中的数据，计算获得所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境的参数并发送至所述井眼环境ARRAYX计算单元和所述井眼环境校正单元中；

所述井眼环境ARRAYX计算单元，接收所述匹配数据以及所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境的参数；根据所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境的参数和调用所述井眼校正库单元通过计算获得除了所述第一子阵列的X个子阵列ARRAYX井眼环境的参数，将所述X个子阵列ARRAYX的井眼环境的参数发送至所述井眼环境校正单元中；

所述井眼环境校正单元，用于接收所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境的参数和X个ARRAYX的井眼环境的参数并根据所述第一子阵列ARRAY1的井眼环境的参数和X个ARRAYX的井眼环境的参数通过计算获得所述井眼校正的数据。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述井眼环境校正单元中进行井眼校正的计算公式如下所示：

σ_jBHC＝σ_ajSKC-Δσ_j(σ_m,σ_tj,Cal,Ecc)

其中，σ_jBHC为经过井眼校正后的j子阵列曲线，σ_ajSKC为趋肤校正后的j子阵列曲线，Δσ_j(σ_m,σ_tj,Cal,Ecc)为j子阵列的井眼影响值；其中，σ_m为泥浆电导率值、σ_tj为地层电导率值、Ca1为井径、Ecc为偏心率。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述分辨率匹配单元具体用于，所述分辨率匹配单元基于背景电导率值选择相应的差值滤波器，将相邻子阵列中的差值信息通过差值滤波器滤出来，将差值信息迭加到具有低分辨率信息的子阵列上，

其中，所述差值滤波器按照如下公式计算：

其中，g_Born,Arrayi(z,σ_b)为子阵列纵向微分Born几何因子实部，w(z',σ_b)为分辨率匹配差值滤波器，σ_b为相应的背景电导率值，g_Born,Arrayi(z,σ_b)为低分辨率子阵列，为高分辨率子阵列，上述公式通过最小二乘优化算法实现。