[发明专利]一种标准单元漏电流的测试电路及测试方法

说明书

本发明提供一种标准单元漏电流的测试电路及测试方法，所述测试电路包括：多个驱动单元以及多个目标单元电路；所述多个驱动单元串联于所述测试电路的输入端和输出端之间，每个所述驱动单元均用于挂载对应的目标单元电路；其中：所述驱动单元和所述目标单元电路均由所述标准单元组成。所述测试电路以及测试方法可以提升标准单元漏电流的测试电路的测试效率。

技术领域

本发明涉及集成电路性能测试领域，特别是涉及一种标准单元漏电流的测试电路及测试方法。

背景技术

在0.18um及以上工艺节点(如0.35um)的集成电路芯片设计的时候，功耗是在速度和面积之外考虑的次要因素。随着集成电路技术的飞速发展，特别是迈入65nm/55nm工艺节点时，晶体管的数量和时钟的频率迅速增长，电路的功耗也越来越大，功耗已经成为约束芯片设计的一个主要因素，是衡量集成电路性能的重要指标，功耗问题越来越受到集成电路设计领域的关注。

集成电路的功耗分可为动态功耗和静态功耗。动态功耗是指电路进行逻辑翻转的时候所消耗的功耗。静态功耗是指电路在不进行逻辑翻转的时候所消耗的功耗，是由CMOS门的静态功耗产生的。在应用于移动便携式设备时，静态功耗影响移动便携式设备的待机时间，因此显得尤为重要。

标准单元作为集成电路设计的基础单元结构，其功耗的大小直接影响芯片的功耗。故在使用标准单元进行集成电路设计之前，需要对标准单元的动态功耗和静态功耗进行测试来评估芯片的功耗。动态功耗的数量级较大，测试相对容易，而静态功耗的测试则相对复杂。静态功耗主要体现为集成电路中器件的漏电流，理想条件下，芯片的引脚和地之间是开路的，但是实际情况中，他们之间为高阻状态，由于自由电子的存在，加上电压后可能会有微小的电流流过，这种电流就是漏电流。漏电流测试时需要满足以下条件：晶体管的数量要足够多，使漏电流足够大，以便使用现有测试仪器可以更为精准的测量。

现有的测试电路在对标准单元的漏电流进行测量时，测量过程较为复杂，效率较低。

发明内容

本发明解决的技术问题是提升标准单元漏电流的测试电路的测试效率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种标准单元漏电流的测试电路，包括：多个驱动单元以及多个目标单元电路；所述多个驱动单元串联于所述测试电路的输入端和输出端之间，每个所述驱动单元均用于挂载对应的目标单元电路；其中：所述驱动单元和所述目标单元电路均由所述标准单元组成。

可选的，所述标准单元为反相器。

可选的，所述驱动单元为偶数个串联的反相器。

可选的，所述目标单元电路为多个反相器，所述多个反相器的输入端共同连接至所述驱动单元的输入端，所述多个反相器的输出端悬空。

可选的，所述驱动单元的总数量使得对所述测试电路进行测试时，所述测试电路输出的总的电流值为μA级别。

本发明实施例还提供一种基于所述的标准单元漏电流的测试电路的测试方法，包括：所述测试电路的输入端接入逻辑0时，测量所述测试电路的输出端的总漏电流值I_all1；所述测试电路的输入端接入逻辑1时，测量所述测试电路的输出端的总漏电流值I_all2；根据I_all1、I_all2、每个所述目标单元电路中的所述标准单元的数量M、每个所述驱动单元中所述标准单元的数量N，以及所述驱动单元的数量P计算每个所述标准单元的漏电流I_X0以及I_X1；其中，M、N、P均为自然数，I_X0为所述标准单元输入逻辑0时的漏电流，I_X1为所述标准单元输入逻辑1时的漏电流。