[发明专利]一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法有效
申请号: | 201710030861.8 | 申请日: | 2017-01-16 |
公开(公告)号: | CN106705863B | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 张健一;刘晓平 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 李媛媛 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 光频域 反射 最大 测试 距离 方法 | ||
1.一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法,其特征在于,该方法实现的系统包括:可调谐扫描激光器、第一耦合器、触发干涉仪、测量干涉仪、数据采集卡以及电脑;所述触发干涉仪包括第二耦合器、第三耦合器、产生相位差的器件和第一光电探测器;所述测量干涉仪包括第四耦合器、光环形器和第二光电探测器;所述第一光电探测器和第二光电探测器分别与数据采集卡连接,所述数据采集卡连接到电脑;
所述可调谐扫描激光器的光源通过第一耦合器后,一部分光依次进入触发干涉仪的第二耦合器、第三耦合器、产生相位差的器件和第一光电探测器,另一部分光进入测量干涉仪的第四耦合器;经第四耦合器后出射的一部分光直接到达第二光电探测器,另一部分光进入光环形器后再到达待测器件,由待测器件反射回来的光通过光环形器后到达第二光电探测器。
2.根据权利要求1所述的一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法,其特征在于,所述触发干涉仪作为测量干涉仪的外部时钟,触发数据采集卡进行数据采集;通过调节所述产生相位差的器件,以产生不同的相位差然后进行多次数据采集,获得多个采用数据,然后合并这些采样数据,达到减小采样周期,提高最大可测量距离。
3.根据权利要求1所述的一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法,其特征在于,所述第一耦合器的耦合比为90:10,所述第二耦合器、第三耦合器和第四耦合器的耦合比均为50:50。
4.根据权利要求1所述的一种提高光频域反射仪的最大测试距离的方法,其特征在于,所述产生相位差的器件为液晶可变波片。
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