[发明专利]半控型器件驱动方法及装置、混合式器件

说明书

技术领域

本发明半控型器件驱动方法及装置属于电学领域,特别是一种适用于对晶闸管等半控型器件具有无驱动盲区或驱动盲区极小的驱动方法，及一种适用在晶闸管等半控型器件的驱动回路中使用的无驱动盲区或驱动盲区极小的半控型驱动装置，及一种无导通盲区或导通盲区极小的混合式器件。

背景技术

目前在需要对负载频繁投切的电控系统中,广泛使用晶闸管（半控型器件）对阻性、感性或容性负载进行投切，为了减少晶闸管的驱动功率，市场上出现了用于减少驱动能耗的相关技术，如专利号为：ZL201110430747.7，专利名称为：触发节能装置及晶闸管开关，其所揭示的工作原理是：电压检测电路检测到晶闸管的主回路两端电压大于晶闸管的通态电压（一般为1.1到1.9V，原文件定义为导通电压降）时，控制电子开关导通，驱动信号通过电子开关驱动晶闸管导通，电压检测电路检测到晶闸管导通时，控制电子开关截止，虽其可以做到与传统晶闸管的驱动方式相比其驱动盲区更小，但仍然存在以下不足：

电压检测电路必须检测到晶闸管的主回路两端电压大于晶闸管通态电压时，才控制电子开关导通，由于滞后提供晶闸管驱动信号，已客观存在驱动盲区，并且晶闸管从其触发极得到驱动信号到晶闸管导通输出存在一定的响应时间，理论上无法做到对晶闸管无或更低盲区驱动，见采用该技术的晶闸管导通时两端的电压波形图（如图1）。

发明内容

本发明的目的在于解决现有晶闸管驱动的不足而提供一种具有使得晶闸管等半控型器件具有无导通盲区或导通盲区极小的驱动方法，及一种适用在晶闸管等半控型器件的驱动回路中使用的无驱动盲区或驱动盲区极小的半控型器件驱动装置，及一种无导通盲区或导通盲区极小的混合式器件。

实现本发明的目的是通过以下技术方案来达到的：

一种半控型器件驱动方法，采用一电压检测开关，电压检测开关的输入端与所需驱动的半控型器件两端连接，电压检测开关串联在半控型器件的驱动回路中，电压检测开关在半控型器件的两端电位差不大于半控型器件通态电压时导通，电压检测开关在检测到半控型器件导通后截止。

一种半控型器件驱动方法，电压检测开关在半控型器件两端电位差大于零且满足半控型器件导通的电压方向时导通。

一种半控型器件驱动装置，包括一电压检测开关，电压检测开关的输入端与所需驱动的半控型器件两端连接，电压检测开关串联在半控型器件的驱动回路中，电压检测开关在半控型器件两端电位差不大于半控型器件通态电压时导通，电压检测开关在检测到半控型器件导通后截止。

一种半控型器件驱动装置，电压检测开关的输入回路、电压检测开关的输出回路、半控型器件之间非绝缘隔离，电压检测开关在半控型器件两端电位差大于零且满足半控型器件导通的电压方向时导通。

一种半控型器件驱动装置，电压检测开关包括四个端口，其中三个端口分别与半控型器件的三端连接，另一端口用于输入驱动信号。

一种半控型器件驱动装置，一种半控型器件驱动装置，在半控型器件两端电压达到通态电压时半控型器件导通。

一种半控型器件驱动装置，半控型器件两端为半控型器件主回路两端，或半控型器件两端为半控型器件的第一端、半控型器件主回路的第二端。

一种半控型器件驱动装置，电压检测开关用于对半控型器件连续无或低盲区驱动节流控制。

一种半控型器件驱动装置，电压检测开关的工作电源由半控型器件的驱动信号源提供，驱动信号源为直流电源。

一种半控型器件驱动装置，直流电源由半控型器件所在的电网非电气隔离提供。

一种半控型器件驱动装置，包括第一电容、一半导体开关，所需驱动的半控型器件两端的电压信号通过第一电容传递至半导体开关的控制端，半导体开关串联在半控型器件的驱动回路中。

一种半控型器件驱动装置，半导体开关在半控型器件两端电位差不大于半控型器件的通态电压时导通，半导体开关在半控型器件导通后截止。

一种半控型器件驱动装置，半导体开关用于对半控型器件连续无盲区或低盲区驱动节流控制。

一种半控型器件驱动装置，半控型器件两端为半控型器件主回路两端，或半控型器件两端为半控型器件的第一端、半控型器件主回路端的第二端。

一种半控型器件驱动装置，半导体开关用于节流控制，半控型器件的驱动能量由所述半控型器件所在的电网的中性线，或相对于所述半控型器件的另一相电通过非电气隔离供电电路、所述半导体开关提供，所述第二电容并联一稳压器件。