[发明专利]一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法

说明书

技术领域

本发明涉及贵金属检测技术领域，具体涉及一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法。

背景技术

“3D硬金”是珠宝首饰行业中的新品种，相较于传统的足金，既有足金的高成色，又具有很高的表面硬度，非常受消费者的喜爱。目前，市场上3D硬金的内部结构多为薄壁中空，金含量为999‰，其生产方式主要包括电铸法和熔金冶炼法两种，在生产工艺中具有模具刷银的步骤，因而对于成品内层除银是否干净需要进行探究，即需要对产品金含量进行检测，目前检验检测机构普遍使用的是X射线荧光光谱法与化学法。但是，本发明的发明人经过研究发现，前一种方法仅对3D硬金表层部分的金属含量进行检测，而未对其内空处是否有银残留进行检测；后一种方法则是完全有损的检测，将样品溶解后进行含量测定，这样就加大了样品的损失，即不管样品内部是否存在缺陷，均会消耗样品。

因此，针对现有3D硬金饰品缺陷检测的不足，有必要找到一种简易的初筛方法，能剥离出可疑的缺陷样品，从而有针对性的进行化学法金含量确定，这样则降低了样品材料消耗成本。

发明内容

本发明的发明人经过研究发现，X射线具有图像对比度高、检测速度快、能区分具有一定密度差值材料的功能，因而当密度不同的样品，在相同的X射线测试条件下，能够得到不同的图像灰度值，对于金、银(含量均达到999‰)样品，其密度差别为8.83g/cm³，因而在相同条件下其图像灰度值存在显著差别，若饰品内层含银，其图像灰度值较相同厚度足金产品图像灰度值会偏大，因此可用于饰品内部缺陷的筛查。

据此，针对现有技术存在的X射线荧光光谱法只能检测3D硬金饰品表层金含量，而化学法则有损耗材的技术问题，本发明提供一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用了如下的技术方案：

一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法，包括以下步骤：

S1、准备厚度不同的多种3D硬金样品，采用X射线透视仪对样品分别进行X射线测试，得到在相同测试条件下不同厚度样品所对应的图像灰度值，依据所述图像灰度值与厚度的对应关系建立线性函数；

S2、测量待测3D硬金饰品的实际厚度，并通过X射线透视仪测量得到待测3D硬金饰品的实际图像灰度值；

S3、根据所述步骤S1中图像灰度值与厚度的对应线性函数关系，计算出在实际厚度值下所对应的参考图像灰度值；

S4、将待测3D硬金饰品的实际图像灰度值与参考图像灰度值进行比较，若小于等于5‰，则待测3D硬金饰品的金含量合格；若大于5‰，则待测3D硬金饰品为可疑缺陷产品。

与现有技术相比，本发明提供的基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法，首先建立已知足金层厚度与X射线图像灰度值的线性函数关系，将线性函数关系中的图像灰度值作为参考图像灰度值，然后分别测量出待测3D硬金饰品的厚度和实际图像灰度值，并根据待测3D硬金饰品的厚度计算出在线性函数关系中所对应的参考图像灰度值，最后比较待测3D硬金饰品的实际图像灰度值和参考图像灰度值的相对差值，若相对差值小于等于5‰则待测3D硬金饰品的金含量合格，即产品的金含量达到999‰，若相对差值大于5‰则待测3D硬金饰品为可疑缺陷产品，即认为产品内部存在缺陷。因此，利用本发明提供的方法能对3D硬金饰品内部是否含银进行初筛，避免了所有产品均进行有损耗材的弊端，具有简便、快速、高效、无损和低成本的特点，拓展了X射线在贵金属检测领域的应用。

进一步，所述步骤S1中准备了四种材质均一、厚度分别为0.081mm、0.125mm、0.142mm和0.183mm的3D硬金样品。

进一步，所述步骤S2中采用千分尺测量待测3D硬金饰品的实际厚度。

进一步，所述步骤S2中采用工作电压为30～100KV、工作电流为30～100mA、焦距和放大倍率可调的X射线透视仪。

进一步，所述步骤S4中当确定待测3D硬金饰品为可疑缺陷产品后，还包括采用化学法进行金含量确定的步骤。

附图说明

图1是本发明提供的基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法流程示意图。

图2a是本发明实施例提供的厚度为0.081mm 3D硬金饰品对应的图像灰度示意图。

图2b是本发明实施例提供的厚度为0.125mm 3D硬金饰品对应的图像灰度示意图。

图2c是本发明实施例提供的厚度为0.142mm 3D硬金饰品对应的图像灰度示意图。