[发明专利]一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法在审

专利信息
申请号: 201710026114.7 申请日: 2017-01-13
公开(公告)号: CN106841241A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 王璇;朱勇;段飞;杨婷婷;余宁;王忠善;孙芳;王聃;罗诗韵;秦俊;甘序;谭仕鹏 申请(专利权)人: 重庆市计量质量检测研究院
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 重庆信航知识产权代理有限公司50218 代理人: 穆祥维
地址: 401123 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 射线 检测 金饰 内部 缺陷 方法
【权利要求书】:

1.一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、准备厚度不同的多种3D硬金样品,采用X射线透视仪对样品分别进行X射线测试,得到在相同测试条件下不同厚度样品所对应的图像灰度值,依据所述图像灰度值与厚度的对应关系建立线性函数;

S2、测量待测3D硬金饰品的实际厚度,并通过X射线透视仪测量得到待测3D硬金饰品的实际图像灰度值;

S3、根据所述步骤S1中图像灰度值与厚度的对应线性函数关系,计算出在实际厚度值下所对应的参考图像灰度值;

S4、将待测3D硬金饰品的实际图像灰度值与参考图像灰度值进行比较,若小于等于5‰,则待测3D硬金饰品的金含量合格;若大于5‰,则待测3D硬金饰品为可疑缺陷产品。

2.根据权利要求1所述的基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法,其特征在于,所述步骤S1中准备了四种材质均一、厚度分别为0.081mm、0.125mm、0.142mm和0.183mm的3D硬金样品。

3.根据权利要求1所述的基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法,其特征在于,所述步骤S2中采用千分尺测量待测3D硬金饰品的实际厚度。

4.根据权利要求1所述的基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法,其特征在于,所述步骤S2中采用工作电压为30~100KV、工作电流为30~100mA、焦距和放大倍率可调的X射线透视仪。

5.根据权利要求1所述的基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法,其特征在于,所述步骤S4中当确定待测3D硬金饰品为可疑缺陷产品后,还包括采用化学法进行金含量确定的步骤。

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