[发明专利]质量分析装置及其离子检测方法有效
| 申请号: | 201680076701.0 | 申请日: | 2016-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN108475614B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
| 发明(设计)人: | 村上真一;照井康 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号: | H01J49/06 | 分类号: | H01J49/06;G01N27/62 |
| 代理公司: | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰<国际申请>=PCT/JP |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 离子量 离子检测 质量分析装置 离子检测部 通道扫描 质量分离 检测 离子 修正 输出修正 输出 施加 | ||
1.一种质量分析装置,其使施加于质量分离部的电压发生变化而选择性地提取所希望的离子,来进行通道扫描测定,其特征在于,所述质量分析装置设有:
离子检测部,其检测由所述质量分离部分离出的离子,并输出电信号;
离子量测定部,其根据该离子检测部的输出测定离子量;以及
离子量修正部,其根据离子量测定部的输出修正离子检测量,
所述离子量修正部在通道扫描的过程中,基于前1个通道的离子检测量修正在当前通道中检测出的离子检测量,
在所述离子量修正部中,基于前1个通道的离子检测量、1个通道的测定时间以及通道切换所需的间隔时间,决定当前通道的离子修正量。
2.根据权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,
所述质量分析装置还具备:修正信息计算部,其针对浓度不同的多个测定试样,测定切断了离子时的离子检测量的衰减过程,并与离子切断前的离子检测量关联起来计算出修正量。
3.根据权利要求2所述的质量分析装置,其特征在于,
所述修正信息计算部还具备:修正信息存储部,其将离子切断前的离子检测量与修正量的关系进行公式近似,并存储导出的近似式的信息。
4.根据权利要求2所述的质量分析装置,其特征在于,
所述质量分离部为四极质量过滤器,
所述离子的切断通过控制施加于四极质量过滤器的电压来实现。
5.根据权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,
所述离子检测部包含闪烁体。
6.一种质量分析装置,其测定进行质量分离而提取出的离子,来进行通道扫描测定,其特征在于,
所述质量分析装置具有选择1个通道的测定时间与间隔时间的设定值输入画面,
所述质量分析装置具有离子量修正部,在所述离子量修正部中,基于前1个通道的离子检测量、1个通道的测定时间以及通道切换所需的间隔时间,决定当前通道的离子修正量。
7.根据权利要求6所述的质量分析装置,其特征在于,
所述质量分析装置具有在通道扫描的过程中,选择是否应用对进行质量分离而提取出的离子的离子检测量进行修正的修正处理的输入设定画面。
8.根据权利要求6所述的质量分析装置,其特征在于,
所述质量分析装置具有在通道扫描的过程中,显示对进行质量分离而提取出的离子的离子检测量进行修正的修正处理后的离子检测量与修正值的关系的显示画面。
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