[发明专利]超声波诊断装置以及衰减特性测量方法有效
| 申请号: | 201680060675.2 | 申请日: | 2016-09-14 |
| 公开(公告)号: | CN108135579B | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
| 发明(设计)人: | 吉川秀树;大坂卓司 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号: | A61B8/14 | 分类号: | A61B8/14 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 许海兰 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超声波 诊断 装置 以及 衰减 特性 测量方法 | ||
1.一种超声波诊断装置,其特征在于,具有:
探头;
发送部,从所述探头对拍摄范围内的对象物发送第1超声束及第2超声束;
接收部,从接收到来自所述对象物的超声波的所述探头的输出中,关于所述对象物的预定测量点,分别得到基于所述第1超声束及第2超声束的接收信号;以及
衰减特性计算部,计算所述对象物的组织的衰减特性,
关于所述第1超声束和所述第2超声束,频率以及焦深分别不同,
所述衰减特性计算部使用关于所述预定测量点的基于所述第1超声束的接收信号和基于所述第2超声束的接收信号,求出所述对象物的衰减特性,
所述第1超声束及第2超声束的频率以及焦深被设定为所述测量点处的所述第1超声束的扩散程度和所述第2超声束的扩散程度一致,即设定为所述第2超声束的频率比所述第1超声束的频率小,所述第2超声束的焦深比所述第1超声束的焦深深,
所述扩散程度是指所述第1超声束及第2超声束的扩散后的每单位面积的能量。
2.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述超声波诊断装置还具有受理部,该受理部从操作者受理所述测量点或者包括测量点的测量区域的设定。
3.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述超声波诊断装置还具有波段控制部,该波段控制部在基于所述发送部的所述超声束的发送时或者基于所述接收部的所述超声束的接收时控制所述超声束的频带。
4.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
将所述第1超声束及第2超声束合成而作为一个超声束发送。
5.根据权利要求4所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述衰减特性计算部从所述接收部的所述接收信号中抽出所述第1超声波的频率的波段的接收信号和所述第2超声波的频率的波段的接收信号,使用抽出后的接收信号来求出所述衰减特性。
6.根据权利要求2所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述超声波诊断装置还具有控制部,该控制部根据预先求出的所述测量点的位置与所述第1超声束及第2超声束各自的焦深的关系,求出用于在所述受理部受理的测量点的位置处使所述第1超声束及第2超声束的扩散程度一致的所述第1超声束及第2超声束各自的焦深并设定到所述发送部。
7.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述衰减特性是衰减率或者衰减率的时间变化。
8.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
使用基于所述第1超声束及第2超声束的所述接收信号中的一方,生成所述拍摄范围的图像。
9.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述衰减特性计算部将所述衰减特性或者将另行求出的所述对象物的诊断信息组合到所述衰减特性而成的信息设为评价指标,使显示部以图表或者图像的方式显示所述评价指标的值的每个测量日的变化或者变化率。
10.根据权利要求9所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述衰减特性计算部对所述评价指标的值进行范围划分,使呈现该范围的组织性状的严重程度的显示与所述图表一起显示于显示部。
11.根据权利要求1所述的超声波诊断装置,其特征在于,
所述发送部向所述拍摄范围的多个方向分别发送所述第1超声束及第2超声束,
所述衰减特性计算部将被照射所述第1超声束及第2超声束的区域二维地分割为多个范围,针对每个所述范围,计算所述衰减特性,生成所述衰减特性的二维分布。
12.一种衰减特性测量方法,其特征在于,
对拍摄范围内的对象物发送频率以及焦深分别不同的第1超声束及第2超声束,
接收来自所述对象物的超声波,关于所述对象物的预定测量点,分别得到基于所述第1超声束及第2超声束的接收信号,
使用关于所述预定测量点的基于所述第1超声束的接收信号和基于所述第2超声束的接收信号,求出所述对象物的衰减特性,
其中,所述第1超声束及第2超声束的频率以及焦深被设定为所述测量点处的所述第1超声束的扩散程度和所述第2超声束的扩散程度一致,即设定为所述第2超声束的频率比所述第1超声束的频率小,所述第2超声束的焦深比所述第1超声束的焦深深,
所述扩散程度是指所述第1超声束及第2超声束的扩散后的每单位面积的能量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680060675.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





