[发明专利]比色皿承载件

说明书

一种比色皿承载件(100)，包括：限定用于比色皿(109)的容纳空间(102)的多个壁(101)；包含在多个壁(101)中的第一透射区域(103)和第二透射区域(104)；以及被布置为使穿过第一透射区域(103)的光偏振的第一光学偏振器(103)。

技术领域

本发明涉及一种用于保持样本比色皿(cuvette)的承载件，尤其涉及一种具有光学偏振部件的比色皿承载件。

背景技术

动态光散射(DLS)是一种用于测量颗粒例如纳米材料和纳米颗粒的大小的强大技术。通常，将含有颗粒的悬浮液或溶液置于透明的样本比色皿中，并用竖向偏振的激光束照射。从颗粒沿着特定方向散射的光在与入射光的偏振正交的平面中被检测到，并且使用大众熟知的方法来分析该散射的光以确定颗粒的性质。从颗粒沿任何方向散射的光——诸如前向散射光、后向散射光和/或侧向散射光(例如与入射光成90°的散射光)——都可以被检测。

动态光散射进一步发展为去偏振式动态光散射(DDLS)，这种去偏振式动态光散射试图量化来自偏离均匀折射率范围的颗粒——诸如棒状颗粒、椭球颗粒、盘形或球形Janus颗粒——的散射的各向异性。在DDLS 中，检测散射光的特定偏振。例如，可以用竖向偏振光照射样本，并且在每个散射偏振中沿着检测路径单独地检测散射光的相关函数。

有许多实验室仪器可以执行动态光散射，诸如Malvern系列。然而，这些仪器可能无法测量散射光的不同偏振状态，因此不能执行去偏振式动态光散射测量。升级系统硬件或完全更换系统以执行DDLS可能是不令人期望地昂贵的。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供了一种比色皿承载件，该比色皿承载件包括：限定用于比色皿的容纳空间(holding volume，保持容积、保持空间) 的多个壁；包含在该多个壁中的第一透射区域和第二透射区域；以及被布置成使穿过第一透射区域的光偏振的第一光学偏振器。

本文使用的术语“偏振器”是指使光的具有特定偏振的分量通过并且 (至少部分地)阻挡光的具有其他偏振的分量的滤光器。术语“偏振”是指用偏振器对光进行过滤，以便使光的具有特定偏振的分量优先通过，同时至少部分地阻挡光的具有其他偏振的分量。

第二透射区域可以用于照射容纳空间内的区域，并且第一透射区域可以用于检测来自所述区域的散射光。

可以使用这样的比色皿承载件来改进现有的仪器，以允许使用光学偏振器检测散射光的偏振来执行DDLS测量。特别地，该比色皿承载件可以装配到现有DLS测量系统的比色皿保持器中。然后可以将容纳有样本的比色皿放入比色皿承载件中。

在一些实施方式中，比色皿承载件可以另外包括第二光学偏振器，该第二光学偏振器被布置为使穿过第二透射区域的光偏振。第一光学偏振器的偏振轴线可以正交于第二光学偏振器的偏振轴线，或者可以平行于第二光学偏振器的偏振轴线。

第二光学偏振器可用于例如使进入比色皿承载件中的比色皿的光在被比色皿中的样本散射之前偏振。可替代地，第二光学偏振器可与第一偏振器结合使用以检测被样本散射的光的偏振。

第一透射区域和第二透射区域可以位于多个壁中的第一壁中。当第一偏振器被用于检测来自样本的后向散射光的偏振，并且第二偏振器被用于使进入样本的光束偏振时，这可能是特别有益的。

在一些实施方式中，比色皿承载件可以进一步包括：位于多个壁中的第二壁中的第三透射区域；以及被布置为使穿过第三透射区域的光偏振的第三光学偏振器。在一些实施方式中，第三光学偏振器的偏振轴线可以正交于第一光学偏振器的偏振轴线，或者可以平行于第一光学偏振器的偏振轴线。第三光学偏振器可以用于例如使侧向散射光偏振，该侧向散射光由已经被通过第二透射区域照射的样本散射。检测器例如DLS仪器中的检测器然后可以检测到作为DDLS实验的一部分的经偏振的侧向散射光。