[发明专利]比色皿承载件

权利要求书

1.一种使用去偏振式动态光散射来测量样本的粒度分布的装置，包括：

用于产生光束的光源；

比色皿承载件，所述比色皿承载件包括：

限定用于比色皿的容纳空间的多个壁；

第一透射区域，所述第一透射区域位于所述多个壁中的第一壁中；

被布置为使穿过所述第一透射区域的散射光偏振的第一光学偏振器；

包括在所述多个壁中的第二透射区域；

位于所述多个壁中的第二壁中的第三透射区域；以及

被布置为使穿过所述第三透射区域的散射光偏振的第三光学偏振器，其中，所述第三光学偏振器的偏振轴线正交于所述第一光学偏振器的偏振轴线，以及

包括在所述多个壁中的第四透射区域；

置于所述比色皿承载件的所述容纳空间中的比色皿；以及

用于检测穿过所述第一光学偏振器或所述第三光学偏振器的散射光的检测器；其中，

所述装置被配置为执行：

第一测量，在所述第一测量中，来自所述光源的光束穿过所述第二透射区域，并且所述检测器检测穿过所述第一光学偏振器的散射光；以及

第二测量，在所述第二测量中，所述比色皿承载件被旋转，使得所述光束穿过所述第四透射区域，并且所述检测器检测穿过所述第三光学偏振器的散射光。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，

所述第二透射区域位于所述第一壁中；以及

所述第四透射区域位于所述第二壁中。

3.根据权利要求1或2所述的装置，还包括第二光学偏振器，所述第二光学偏振器被布置为使穿过所述第二透射区域的光偏振。

4.根据权利要求3所述的装置，所述第一光学偏振器的偏振轴线正交于所述第二光学偏振器的偏振轴线。

5.根据权利要求2所述的装置，还包括第四光学偏振器，所述第四光学偏振器被布置为使穿过所述第四透射区域的光偏振。

6.根据权利要求1、2、5中的任一项所述的装置，其中，所述第一壁与所述第二壁相邻。

7.根据权利要求1、2、5中的任一项所述的装置，其中，所述第一透射区域或第三透射区域中的至少一者包括壁中的孔。

8.根据权利要求1或2所述的装置，其中，所述第一透射区域、第二透射区域、第三透射区域或第四透射区域中的至少一个包括壁中的孔。

9.根据权利要求1、2、5中的任一项所述的装置，其中，所述第一透射区域和第二透射区域彼此相邻，以便形成连续的透射区域。

10.根据权利要求1、2、5、8中的任一项所述的装置，其中，所述第三透射区域和第四透射区域彼此相邻，以便形成连续的透射区域。

11.根据权利要求1、2、5、8中的任一项所述的装置，还包括适于装配到所述容纳空间中的插入件，所述插入件包括限定比所述容纳空间小的内部空间的多个壁。