[发明专利]用于选择图像变换的系统和方法有效
申请号: | 201680038576.4 | 申请日: | 2016-06-30 |
公开(公告)号: | CN107851301B | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 詹姆斯·纳什;卡林·米特科夫·阿塔纳索夫;哈西卜·艾哈迈德·西迪基;阿尔布雷希特·约翰尼斯·林德纳 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G06T1/20 | 分类号: | G06T1/20;G06T3/00;G06T7/30;G06F3/0484;G06F3/0488;H04N5/14;H04N5/232 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 安之斐 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 选择 图像 变换 系统 方法 | ||
1.一种用于选择变换的电子装置,其包括:
至少一个图像传感器;
存储器;
处理器,其耦合到所述存储器和所述至少一个图像传感器,其中所述处理器被配置成:
从所述至少一个图像传感器获得至少两个图像;
表征所述至少两个图像中的每一个的结构内容,以产生每一图像量化所述结构内容的特性,其中所述处理器经配置以从所述图像中的至少一者提取关键点;
通过确定经提取关键点的数目是否满足关键点数目准则以及所述经提取关键点的关键点分布是否满足关键点分布准则,而基于至少一个特性从变换集选择至少一个变换;以及
将所述至少一个变换应用于所述图像中的至少一个以大体上对准所述至少两个图像。
2.根据权利要求1所述的电子装置,其中所述处理器被配置成通过确定一或多个度量而表征所述结构内容,其中所述一或多个度量包括空间响应、结构广泛性、空间分布或变换响应中的至少一个。
3.根据权利要求2所述的电子装置,其中所述处理器被配置成将所述一或多个度量与一或多个阈值比较。
4.根据权利要求1所述的电子装置,其中所述变换集是以变换层级布置,且其中所述处理器被配置成基于所述层级选择所述至少一个变换。
5.根据权利要求4所述的电子装置,其中所述处理器被配置成确定是否选择以层级次序进行的所述至少一个变换,其中所述层级是由与所述变换集中的所述变换中的每一个相关联的变换参数数目排序。
6.根据权利要求1所述的电子装置,其中所述处理器被配置成通过进行以下操作中的至少一个而表征所述结构内容:确定结构的数目、确定结构的空间分布或确定变换响应。
7.根据权利要求1所述的电子装置,其中所述处理器被配置成基于所述至少一个变换执行对所述至少两个图像中的所述至少一个的对齐、校正或扭曲中的至少一个。
8.根据权利要求1所述的电子装置,其进一步包括至少两个镜头,其中所述处理器被配置成基于所述图像对准而在所述至少两个镜头之间切换。
9.根据权利要求1所述的电子装置,其中所述变换集包括:包含缩放、旋转和x-y移位的变换;包含缩放和x-y移位的变换;包含x-y移位的变换;包含x移位的变换;以及包含y移位的变换。
10.根据权利要求1所述的电子装置,其中所述处理器被配置成基于应用程序准确性要求的查找表来选择变换。
11.一种由电子装置执行的用于选择变换的方法,其包括:
获得至少两个图像;
表征所述至少两个图像中的每一个的结构内容,以产生每一图像量化所述结构内容的特性,其包括从所述图像中的至少一者提取关键点;
通过确定经提取关键点的数目是否满足关键点数目准则以及所述经提取关键点的关键点分布是否满足关键点分布准则,而基于至少一个特性从变换集选择至少一个变换;以及
将所述至少一个变换应用于所述图像中的至少一个以大体上对准所述至少两个图像。
12.根据权利要求11所述的方法,其中表征所述结构内容包括确定一或多个度量,其中所述一或多个度量包括空间响应、结构广泛性、空间分布或变换响应中的至少一个。
13.根据权利要求12所述的方法,其中选择所述至少一个变换包括将所述一或多个度量与一或多个阈值比较。
14.根据权利要求11所述的方法,其中所述变换集是以变换层级布置,且其中选择所述至少一个变换是基于所述层级。
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