[发明专利]使用位线缺陷信息解码数据

说明书

一种数据存储装置包含存储器，该存储器包含配置为存储数据的多个存储元件。多个存储元件包含存储元件的第一组和存储元件的第二组。数据存储装置还包含选择模块，该选择模块配置为撷取影响存储元件的第一组的第一位线缺陷信息和撷取影响存储元件的第二组的第二位线缺陷信息。

技术领域

本公开总体上涉及使用位线缺陷信息来解码数据。

背景技术

数据存储装置可以包含诸如错误校正码(ECC)引擎的解码器，其用于校正存储在数据存储装置的存储器处的数据中的错误。一些ECC引擎使用软位(soft bit)，该软位指示一个或多个位是正确(或错误)的概率，以便解码数据的表示(representation)和校正一个或多个错误。用于产生软位的一种类型的信息是位线缺陷信息。位线缺陷信息可以指示存储器的哪个位线是“坏位线”(bad bit line)。坏位线是指具有缺陷(例如，故障、瑕疵和/或“错误”)的位线。耦合到坏位线的至少一些存储元件可能具有存储错误数据的高可能性。第一种类型的位线缺陷称为“闭合缺陷”(例如，短路)。当一个位线与另一个位线接触时，发生闭合缺陷，使得耦合到两个位线的所有存储元件具有存储错误数据的高可能性。第二种类型的位线缺陷称为“开路缺陷”(例如，“开路”)。当位线中存在“中断”时，发生开路缺陷。在中断的一侧上的存储元件具有存储错误数据的高可能性，但是中断的另一侧上的存储元件不具有存储错误数据的增加的可能性。

在数据存储装置的制造和生产期间，进行测试来标识存储器处的坏位线(例如，具有闭合缺陷和开路缺陷的位线)。整个存储器的位线缺陷信息存储在存储器处，并且用于产生软位，该软位对于ECC引擎在解码数据中的使用是可用的。因为具有开路缺陷的位线被标识为坏位线，所以不具有存储错误数据的高可能性的至少一些存储元件(例如，在位线中的中断的一侧上的存储元件)被错误地标识为具有存储错误数据的高可能性。向解码器提供软位(该软位错误地将位标识为具有很高的错误可能性)降低了解码器的效率，其增加了在解码过程期间的解码器的处理时间和功率消耗。

附图说明

图1系统的特定说明性示例的框图，该系统配置为使用位线缺陷信息来解码存储在数据存储装置的存储器的存储元件的组处的数据，该位线缺陷信息标识具有影响存储元件的组的缺陷的位线。

图2是示出了图1的存储器104的多个区块以及具有开路缺陷的多个位线的框图。

图3是示出了图1的数据存储装置的控制器的操作的方法的特定示例的流程图；以及

图4是示出了图1的数据存储装置的存储器的操作的方法的特定示例的流程图。

具体实施方式

参考附图来描述特定实施方式。在说明书中，所有附图中的共同的特征由共同的附图标记指定。如本文所使用的，用于修饰元件(诸如结构、组件、操作等)的序数术语(例如，“第一”、“第二”、“第三”等)本身不指示元件相对于另一个元件的任何优先级或顺序，而仅仅是将该元件与具有相同名称的另一个元件区分开来(但是为了使用序数术语)。

参考图1，描绘了系统的特定说明性示例并将其总体指定为100。系统100包含数据存储装置102和存取装置150。数据存储装置102包含控制器120和耦合到控制器120的存储器104。在一些实施方式中，存储器104是非易失性存储器。在其他实施方式中，存储器104是易失性存储器。