[发明专利]光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法有效

专利信息
申请号: 201680034686.3 申请日: 2016-05-23
公开(公告)号: CN107709941B 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 前田穣 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44;G01J1/38;G01J3/51;G01M11/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张丽
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 特性 测量 装置 以及 设定 方法
【说明书】:

光学特性测量装置具备:输入部,关于使用分光传感器的测量输入第1曝光时间以及第1累计次数;计算部,使用所输入的第1曝光时间和第1累计次数来计算使用分光传感器的测量的测量时间(第1测量时间);以及确定部,以减小第1测量时间与使用二维成像传感器的测量的测量时间(第2测量时间)之差或者消除差的方式确定使用二维成像传感器的测量中的第2曝光时间以及第2累计次数中的至少一方。

技术领域

本发明例如涉及测量显示器的画面的光学特性的技术。

背景技术

光学特性测量装置是使用光学传感器来测量光学特性(例如,色彩、亮度、光泽)的装置。二维颜色测量仪是光学特性测量装置的一种,进行与测量面的颜色有关的测量。二维颜色测量仪被应用在各种工业领域,例如被用于显示器的画面的色度分布的测量。

着眼于分光传感器能够高精度地测量测量点(换言之,点区域)的颜色的特征,提出有组合分光传感器与对二维彩色图像进行拍摄的拍摄部而成的二维颜色测量仪。例如,专利文献1公开有一种二维颜色测量仪,该二维颜色测量仪具备:分束器,对来自测量对象的光进行二分割;拍摄部,接收二分割而得到的一路光;分光传感器,接收二分割而得到的另一路光;以及运算部,使用由分光传感器测量出的测量点的分光分布,计算三刺激值,使用该三刺激值和由拍摄部拍摄而得到的测量区域的各像素的数据,计算各像素的三刺激值。拍摄部是将黑白CCD传感器和与XYZ色度图的颜色匹配函数近似的滤波器进行组合而成的传感器。

根据上述二维颜色测量仪,分别实施使用包括CCD传感器的拍摄部的测量和使用分光传感器的测量。在使用这些光学传感器(CCD传感器、分光传感器)的测量中,设定曝光时间以及累计次数。曝光时间是光学传感器在测量过程中曝光的时间。二维颜色测量仪实施多次测量,对各测量中的测量值进行累计,从而减小了测量值的误差。累计次数是累计的测量值的数量。既存在将累计而得到的测量值直接送到接下来的处理的情况,也存在将把累计而得到的测量值除以累计次数而得到的平均值送到接下来的处理的情况。

使用光学传感器的测量的测量时间依赖于曝光时间以及累计次数,当增长曝光时间或者增多累计次数时,测量时间变长。相对于此,当缩短曝光时间或者减少累计次数时,测量时间变短。

在二维颜色测量仪中,针对拍摄部以及分光传感器分别设定预定的曝光时间以及累计次数。本发明人发现,在测量者关于这些光学传感器的每一个设定曝光时间以及累计次数时,存在在使用一个光学传感器的测量的测量时间与使用另一个光学传感器的测量的测量时间之间产生大的差异的情况。两个光学传感器中的测量时间短的光学传感器必须在该期间待机。当在两个光学传感器的测量时间之间产生大的差异时,测量时间短的光学传感器的待机时间变长,该光学传感器的利用效率变差。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利第3246021号说明书

发明内容

本发明的目的在于提供能够防止在使用两个光学传感器来测量光学特性时在任意的光学传感器中产生长的待机时间的光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法。

达成上述目的的本发明提供一种光学特性测量装置具备:第1光学传感器,将测量对象中的二维区域作为测量范围;第2光学传感器,将包含于所述二维区域且比所述二维区域窄的点区域作为测量范围;输入部,关于使用所述第1光学传感器以及所述第2光学传感器中的一个光学传感器的测量被输入第1曝光时间以及第1累计次数;计算部,使用被输入到所述输入部的所述第1曝光时间和所述第1累计次数来计算第1测量时间,该第1测量时间是使用所述一个光学传感器的测量的测量时间;以及确定部,以减小所述第1测量时间与第2测量时间之差或者消除所述差的方式确定使用所述第1光学传感器以及所述第2光学传感器中的另一个光学传感器的测量中的第2曝光时间以及第2累计次数中的至少一方,所述第2测量时间是使用所述另一个光学传感器的测量的测量时间。

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