[发明专利]光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法

权利要求书

1.一种光学特性测量装置，具备：

第1光学传感器，将测量对象中的二维区域作为测量范围；

第2光学传感器，将包含于所述二维区域且比所述二维区域窄的点区域作为测量范围；

输入部，关于使用所述第1光学传感器以及所述第2光学传感器中的一个光学传感器的测量被输入第1曝光时间以及第1累计次数；

计算部，使用被输入到所述输入部的所述第1曝光时间和所述第1累计次数计算第1测量时间，该第1测量时间是使用所述一个光学传感器的测量的测量时间；以及

确定部，以减小所述第1测量时间与第2测量时间之差或者消除所述差的方式确定使用所述第1光学传感器以及所述第2光学传感器中的另一个光学传感器的测量中的第2曝光时间以及第2累计次数中的至少一方，所述第2测量时间是使用所述另一个光学传感器的测量的测量时间。

2.根据权利要求1所述的光学特性测量装置，其中，

所述确定部以避免所述第2测量时间超过所述第1测量时间的方式确定所述第2曝光时间以及所述第2累计次数中的至少一方。

3.根据权利要求2所述的光学特性测量装置，其中，

所述确定部以使得成为能够设定为所述第2测量时间的值中的最接近所述第1测量时间的值的方式确定所述第2曝光时间以及所述第2累计次数中的至少一方。

4.根据权利要求1～3中的任意一项所述的光学特性测量装置，其中，

所述测量对象为按照预定的刷新周期工作的显示器的画面，

所述输入部受理所述刷新周期的整数倍的所述第1曝光时间的输入，

所述确定部从可变曝光时间中确定所述第2曝光时间，该可变曝光时间表示对所述刷新周期取整数倍而得到的值。

5.根据权利要求4所述的光学特性测量装置，其中，

所述光学特性测量装置还具备存储部，该存储部预先存储饱和曝光时间，该饱和曝光时间是来自所述另一个光学传感器的输出饱和的曝光时间，

所述确定部将比所述饱和曝光时间小的值确定为所述第2曝光时间。

6.根据权利要求5所述的光学特性测量装置，其中，

所述确定部将最接近所述饱和曝光时间的值确定为所述第2曝光时间。

7.根据权利要求1～3中的任意一项所述的光学特性测量装置，其中，

所述第1光学传感器包括RGB的彩色滤光器以及通过所述RGB的彩色滤光器进行受光的二维成像传感器，

所述第2光学传感器包括分光传感器。

8.根据权利要求7所述的光学特性测量装置，其中，

所述光学特性测量装置还具备颜色校正部，该颜色校正部使用由所述分光传感器测量出的所述点区域的颜色数据来校正由所述二维成像传感器测量出的包括所述点区域的所述二维区域的各像素的颜色数据。

9.根据权利要求1～3中的任意一项所述的光学特性测量装置，其中，

所述光学特性测量装置还具备光分割部，该光分割部对来自所述测量对象的光进行二分割，

所述第1光学传感器配置于所述二分割得到的一路光的光路，

所述第2光学传感器配置于所述二分割得到的另一路光的光路。

10.一种光学特性测量装置的设定方法，所述光学特性测量装置具备：第1光学传感器，将测量对象中的二维区域作为测量范围；以及第2光学传感器，将包含于所述二维区域且比所述二维区域窄的点区域作为测量范围，其中，所述光学特性测量装置的设定方法具备：

输入步骤，关于使用所述第1光学传感器以及所述第2光学传感器中的一个光学传感器的测量输入第1曝光时间以及第1累计次数；

计算步骤，使用在所述输入步骤中输入的所述第1曝光时间和所述第1累计次数来计算第1测量时间，该第1测量时间是使用所述一个光学传感器的测量的测量时间；以及

确定步骤，以减小所述第1测量时间与第2测量时间之差或者消除所述差的方式确定使用所述第1光学传感器以及所述第2光学传感器中的另一个光学传感器的测量中的第2曝光时间以及第2累计次数中的至少一方，该第2测量时间是使用所述另一个光学传感器的测量的测量时间。