[发明专利]用于使用多个辐射源来检查容器的系统和方法

权利要求书

1.一种用于容器的检查系统，包括：

(a)第一辐射源，所述第一辐射源产生具有第一波长的第一辐射并在第一光束路径中辐射所述容器，

(b)第二辐射源，所述第二辐射源产生具有第二波长的第二辐射并在第二光束路径中辐射所述容器，

(c)分束器，

(d)反射镜总成，所述反射镜总成包括至少一个反射表面，

(e)第一传感器，所述第一传感器在所述第一光束路径中，

(f)第二传感器，所述第二传感器在所述第二光束路径中，

其中所述第一辐射从所述容器反射到第一图像传感器以产生第一图像，所述第二辐射从所述容器反射到第二图像传感器以产生第二图像，且所述容器的所述第一图像和所述第二图像大体上成可视角度。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一辐射与所述第二辐射具有相异的波长。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器捕获黑光和白光且所述第二传感器捕获色谱。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述反射镜总成具有被放置以将由所述容器反射的光引导到所述两个图像传感器的至少一个反射表面。

5.根据权利要求1所述的系统，进一步包括图像处理器，所述图像处理器比较所述第一图像与所述第二图像，并使用算法以检测所述容器中的缺陷。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器或所述第二传感器是相机，且所述第一相机或所述第二相机是具有成像光学件的模拟相机或数码相机。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器与所述第二传感器同步地捕获图像。

8.根据权利要求1所述的系统，进一步包括第三传感器和第三光束路径。

9.根据权利要求1所述的系统，进一步包括第四传感器和第四光束路径。

10.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一光束路径和所述第二光束路径各自具有单独的反射镜。

11.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一辐射源辐射全谱光。

12.根据权利要求1所述的系统，其中所述第二辐射源辐射红外线辐射。

13.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一辐射源从所述容器上方辐射所述容器。

14.根据权利要求1所述的系统，其中所述辐射源在所述容器的基底或侧面处辐射所述容器。

15.一种检查容器的方法，包括

(a)将所述容器传送到两个辐射源的光束路径中，其中第一辐射源产生具有第一波长的第一辐射，且所述第二辐射源产生具有第二波长的第二辐射；

(b)通过相机和处理器处理所述第一辐射和所述第二辐射以产生第一图像和第二图像；以及

(c)使用使用来自所述第一图像和所述第二图像的数据的算法来检测所述容器中的缺陷。

16.根据权利要求15所述的方法，另外反射镜总成包括至少一个反射表面，

17.根据权利要求15所述的方法，其中所述第一传感器与所述第二传感器同步地捕获图像。

18.根据权利要求15所述的方法，其中所述第一辐射源辐射全谱光。

19.根据权利要求15所述的方法，其中所述第二辐射源辐射红外线辐射。

20.根据权利要求15所述的方法，其中所述第一辐射源定位于所述容器上方并从所述容器上方辐射所述容器。

21.根据权利要求15所述的方法，其中所述辐射源在所述容器的基底或侧面处辐射所述容器。

22.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一传感器捕获黑光和白光且所述第二传感器捕获色谱。