[发明专利]用于FPGA的测试和配置的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201680007693.4 申请日: 2016-10-07
公开(公告)号: CN108028654B 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: L·鲁热;J·埃杜;M·朱弗雷 申请(专利权)人: 门塔公司
主分类号: H03K19/17728 分类号: H03K19/17728;H03K19/17748;G01R31/28
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘瑜;王英
地址: 法国蒙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 fpga 测试 配置 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种操作FPGA的方法,其包括以下步骤:

指示复用器(38)选择输入以接收实现测试协议的配置值,所述复用器(38)的输出耦合到编程移位寄存器(37),

指示多个LUT触发电路(915、916)进入测试配置,其中,每个所述LUT触发电路(915、916)接收实现所述测试协议的输入,并且其中,所述LUT触发电路(915、916)被连接作为移位寄存器,

为所述编程移位寄存器(37)提供时钟控制以使其第一元件集合(3707、3708、3709、3710、3711、3712、3713、3714、3715)加载有属于实现所述测试协议的所述配置值的LUT配置值;

为所述编程移位寄存器(37)提供时钟控制以使所述编程移位寄存器(37)的第二元件集合(3701、3702、3703、3704、3705、3706)加载有属于实现所述测试协议的所述配置值的路由开关配置,

指示所述多个LUT触发电路(915、916)进入操作配置,其中,每个所述LUT触发电路(915、916)分别从多个LUT(21、22)的输出接收输入,

将数据输入应用到所述多个LUT(21、22),

为所述LUT触发电路(915、916)提供时钟控制以便将每个所述LUT(21、22)的输出采样到相应的所述触发电路(915、916)中,所述输出响应于所述测试协议和所述数据输入,

指示所述LUT触发电路(915、916)进入测试配置,其中,所述LUT触发电路被连接在LUT移位寄存器中,并且被连接作为移位寄存器,以及

为所述LUT触发电路(915、916)提供时钟控制以读出所述LUT移位寄存器的值,其包括响应于所述测试协议和所述数据输入的所述LUT的所述输出。

2.一种操作FPGA的方法,其包括以下步骤:

指示复用器(38)选择输入以接收实现逻辑功能的配置值,所述复用器(38)的输出耦合到编程移位寄存器(37),

指示多个LUT触发电路(915、916)进入操作配置,其中,每个所述LUT触发电路(915、916)分别从多个LUT(21、22)的输出接收输入,

为所述编程移位寄存器(37)提供时钟控制以使其第一元件集合(3707、3708、3709、3710、3711、3712、3713、3714、3715)加载有属于实现所述逻辑功能的所述配置值的LUT配置值;

为所述编程移位寄存器(37)提供时钟控制以使所述编程移位寄存器(37)的第二元件集合(3701、3702、3703、3704、3705、3706)加载有属于实现所述逻辑功能的所述配置值的路由开关配置值。

3.根据权利要求2所述的方法,包括另外的步骤:启用作为所述编程移位寄存器的第一编程移位寄存器的输出,以及

针对另外的编程移位寄存器,重复启用、指示和时钟控制步骤。

4.一种用于操作FPGA的装置,包括用于执行根据权利要求1-3中任一项所述的方法的单元。

5.一种计算机可读介质,其上存储有指令,所述指令在由处理器执行时,使得所述处理器执行根据权利要求1-3中任一项所述的方法。

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