[发明专利]图像取得装置以及图像取得方法

说明书

一种图像取得装置，具备：空间光调制器，调制照射光；控制部，以在观察对象物中形成多个聚光点的方式控制调制图案；聚光光学系统，对被调制了的所述照射光进行聚光；扫描部，在与所述聚光光学系统的光轴相交叉的扫描方向上扫描所述观察对象物中的所述多个聚光点的位置；光检测器，检测从所述多个聚光点分别产生的多个观察光；所述控制部根据所述光轴的方向上的所述多个聚光点的位置而设定相邻的所述聚光点的中心间隔。

技术领域

本发明的一个方面涉及图像取得装置以及图像取得方法。

背景技术

非专利文献1公开了使用空间光调制器(Spatial Light Modulator：SLM)的多光子吸收显微镜。该显微镜企图通过使用SLM并形成多个激发光光点(spot)来进行扫描，从而高速且鲜明地取得观察对象物内的荧光图像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利申请公开2012-226268号公报

非专利文献

非专利文献1：Wan Qin,Yonghong Shao,Honghai Liu,Xiang Peng,Hanben Niu,and Bruce Gao,“Addressable discrete-line-scanning multiphoton microscopybased on a spatial light modulator”,OPTICS LETTERS,Vol.37,No.5,pp.827-829,March 1,2012

发明内容

发明所要解决的技术问题

近年来，研究使用SLM来调制被照射于观察对象物的激发光或照明光等的光的技术。根据这样的技术，相对于观察对象物能够实现各种各样的照射光、例如具有平坦的强度分布的光或同时被照射于多个位置(光点)的光等。

在显微观察中通过将光同时照射于观察对象物的多个位置从而能够同时观察多个部位，所以能够缩短观察时间，另外，具有能够取得多个部位的同时刻的状况等的优点。为此，需要同时将光照射于多个位置并且使用例如具有多个检测区域的光检测器来同时检测从这些位置产生的观察光。然而，在如上所述检测观察光的时候，有时会发生如以下所述的问题。

在将照射光照射于观察对象物的时候，会产生起因于观察对象物的表面形状的像差(例如球面像差)。为了修正这样的像差而可以使用例如SLM来控制照射光的波阵面。然而，相对于从观察对象物产生的观察光进行这样的修正多是困难的。因此，到达光检测器的观察光的形态成为受像差影响的形态。即，在观察对象物的深的位置上产生的观察光中，与在观察对象物的浅的位置上产生的观察光相比较，到达物镜时的光径变大。因此，在光检测器中，同样的，在深的位置上产生的观察光的光径也大于在浅的位置上产生的观察光的光径。

在显微观察中，在从浅的位置到深的位置为止观察具有厚度的观察对象物的情况下，根据上述的现象，观察光的光径由于观察深度而不同。因此，在同时检测从多个位置产生的多个观测光的情况下，由观察深度而会有相邻的观察光彼此在光检测器中重叠而产生串扰的担忧。如果产生串扰的话，则难以高精度地分别检测多个观察光。

本发明的一个方面的目的在于，提供一种能够降低由于多个观察光彼此重叠所引起的串扰的图像取得装置以及图像取得方法。

解决问题的技术手段