[发明专利]辐射热计型THz检测器有效
申请号: | 201680005713.4 | 申请日: | 2016-01-13 |
公开(公告)号: | CN107209055B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 北浦隆介;石原正敏;山崎理弘;高桥宏典 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01N21/3581;G01R29/08;H01Q19/30 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦;黄浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射热 thz 检测器 | ||
本发明的辐射热计型THz检测器具备接收并放射波长λ的THz波的指向性天线(1)、与指向性天线(1)相对配置的收信天线(2)、及检测由流经收信天线(2)的电流引起的发热的辐射热计(4),且指向性天线(1)在俯视时与收信天线(2)重叠,指向性天线(1)的长度方向长被设定为比收信天线(2)的长度方向长要短。
技术领域
本发明涉及一种辐射热计型THz检测器。
背景技术
辐射热计为利用电阻体(或导体)的电阻值根据温度变化而变化的性质的热(红外线)检测组件,若电阻体的温度变化率大时,则被称为热敏电阻。
辐射热计型THz检测器为检测兆赫频率帯(波长λ为30μm以上1mm以下)的电磁波(THz波)的装置,其被期待应用于物质的解析技术等(参照例如专利文献1、专利文献2)。在这些文献中所记载的检测器利用吸收膜吸收THz波、或利用天线接收THz波,并将由此所产生的热输入辐射热计而间接地检测出THz波。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本特许5109169号公报
[专利文献2]日本特开2010‐261935号公报
发明内容
[发明所要解决的问题]
然而,期待一种与现有的辐射热计型THz检测器相比可检测出更微弱的电磁波的辐射热计型THz检测器。
本发明鉴于如此的课题而完成,其目的在于提供一种能够检测出微弱的电磁波的辐射热计型THz检测器。
[解决问题的技术手段]
为解决上述的问题,本发明的辐射热计型THz检测器的特征在于:其具备接收并放射THz波的指向性天线、与前述指向性天线相对配置的收信天线、及检测由流经前述收信天线的电流引起的发热的辐射热计,其中前述指向性天线在俯视时与前述收信天线重叠,且前述指向性天线的长度方向长比前述收信天线的长度方向长要短。
因指向性天线比收信天线短,故入射至指向性天线的THz波的相位变化后被再放射而由收信天线接收。指向性天线在俯视时与收信天线重叠,且因收信天线经由指向性天线的相位调整而能够配置于接收大的电场振幅的位置,故对应收信而大的电流流动,而由电阻体(或导体)造成发热。因发热量利用辐射热计而被检测出,故该装置作为辐射热计型THz检测器而发挥功能。在指向性天线的长度方向与收信天线的长度方向为一致时,收信天线能够接收更大的电场振幅。
另外,本发明的特征在于将前述THz波的波长设为λ,则前述指向性天线与前述收信天线的距离为λ/4(作为相位相当于π/2)以下。该情形下,因入射至收信天线的THz波与自指向性天线再放射的THz波相对于收信天线在入射侧成为同相而增强、在反入射侧则成为反相而减弱,故在入射侧具有强指向性。
另外,本发明的辐射热计型THz检测器的特征在于:其进一步具备反射天线,其配置于与前述指向性天线共同夹着前述收信天线的位置。在THz波入射至反射天线时,因再放射的THz波能够入射至收信天线,故通过适当地调整反射天线的位置,能够增大收信天线所接收的电场振幅。
另外,本发明的辐射热计型THz检测器的特征在于:其具备具有凹部的盖部件、及被前述盖部件盖住且与前述盖部件共同划分密闭空间的支撑基板,且前述指向性天线固定于前述凹部的底面,前述指向性天线、前述收信天线、及前述辐射热计配置于前述密闭空间内。
由于将上述天线群紧凑地收纳于密闭空间内,故能够构成对环境变动的耐性高、且小型的检测器。
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