[实用新型]一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置

权利要求书

1.一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，包括硬度检测室（1）、强度检测室（2）、清理室（3）、第一控制箱（4）、第一液压缸（5）、第一液压杆（6）、尖角部（7）、第一固定板（8）、滑轨（9）、硬度检测仪（10）、第一芯片放置架（11）、第二芯片放置架（12）、滑轮（13）、第二控制箱（14）、第二液压缸（15）、第二液压杆（16）、压件板（17）、第二固定板（18）、强度检测仪（19）、第三控制箱（20）、电机（21）、旋转轴（22）、扇叶（23）和第三固定板（24），其特征在于：所述硬度检测室（1）内设有所述第一控制箱（4），所述第一控制箱（4）的底部设有所述第一液压缸（5），所述第一液压缸（5）底部通过所述第一液压杆（6）连接有所述尖角部（7），所述硬度检测室（1）的底部设有所述第一固定板（8），所述第一固定板（8）的中部设有所述硬度检测仪（10），所述强度检测室（2）的内部设有所述第二控制箱（14），所述第二控制箱（14）的底部设有所述第二液压缸（15），所述第二液压缸（15）通过所述第二液压杆（16）连接有所述压件板（17），所述强度检测室（2）的底部设有所述第二固定板（18），所述清理室（3）的内部设有所述第三控制箱（20），所述第三控制箱（20）的底部设有所述电机（21），所述电机（21）通过所述旋转轴（22）连接有所述扇叶（23），所述清理室（3）的底部设有所述第三固定板（24）。

2.根据权利要求1所述的一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，其特征在于：所述第一固定板（8）、所述第二固定板（18）和所述第三固定板（24）的两侧均设有所述滑轨（9）。

3.根据权利要求1所述的一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，其特征在于：所述硬度检测仪（10）和所述强度检测仪（19）的顶部均设有所述第一芯片放置架（11）和所述第二芯片放置架（12），所述第一芯片放置架（11）和所述第二芯片放置架（12）的底部均设有所述滑轮（13），所述第三固定板（24）两侧的所述滑轨（9）通过所述滑轮（13）也连接有所述第一芯片放置架（11）和所述第二芯片放置架（12）。

4.根据权利要求1所述的一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，其特征在于：所述第一控制箱（4）电性连接所述第一液压缸（5）和所述硬度检测仪（10），所述第二控制箱（14）电性连接所述第二液压缸（15）和所述强度检测仪（19），所述第三控制箱（20）电性连接所述电机（21）。

5.根据权利要求1所述的一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，其特征在于：所述第一液压缸（5）与所述第一控制箱（4）的底部固定连接，所述第二液压缸（15）与所述第二控制箱（14）的底部固定连接，所述电机（21）与所述第三控制箱（20）的底部固定连接。