[实用新型]一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，具体为一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置。

背景技术

计算机芯片在计算机内起到主要作用，通常计算机芯片的强度和硬度需要分开测试，这样测试起来很不方便，而且单独的强度或硬度检测仪仅仅能够测试计算机芯片的强度或硬度，并没有其它功能。

因此，需要设计一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置来解决此类问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，包括硬度检测室、强度检测室、清理室、第一控制箱、第一液压缸、第一液压杆、尖角部、第一固定板、滑轨、硬度检测仪、第一芯片放置架、第二芯片放置架、滑轮、第二控制箱、第二液压缸、第二液压杆、压件板、第二固定板、强度检测仪、第三控制箱、电机、旋转轴、扇叶和第三固定板，所述硬度检测室内设有所述第一控制箱，所述第一控制箱的底部设有所述第一液压缸，所述第一液压缸底部通过所述第一液压杆连接有所述尖角部，所述硬度检测室的底部设有所述第一固定板，所述第一固定板的中部设有所述硬度检测仪，所述强度检测室的内部设有所述第二控制箱，所述第二控制箱的底部设有所述第二液压缸，所述第二液压缸通过所述第二液压杆连接有所述压件板，所述强度检测室的底部设有所述第二固定板，所述清理室的内部设有所述第三控制箱，所述第三控制箱的底部设有所述电机，所述电机通过所述旋转轴连接有所述扇叶，所述清理室的底部设有所述第三固定板。

进一步的，所述第一固定板、所述第二固定板和所述第三固定板的两侧均设有所述滑轨。

进一步的，所述硬度检测仪和所述强度检测仪的顶部均设有所述第一芯片放置架和所述第二芯片放置架，所述第一芯片放置架和所述第二芯片放置架的底部均设有所述滑轮，所述第三固定板两侧的所述滑轨通过所述滑轮也连接有所述第一芯片放置架和所述第二芯片放置架。

进一步的，所述第一控制箱电性连接所述第一液压缸和所述硬度检测仪，所述第二控制箱电性连接所述第二液压缸和所述强度检测仪，所述第三控制箱电性连接所述电机。

进一步的，所述第一液压缸与所述第一控制箱的底部固定连接，所述第二液压缸与所述第二控制箱的底部固定连接，所述电机与所述第三控制箱的底部固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该种多功能计算机芯片强度及硬度测试装置，集硬度和强度测试仪与一体，不仅能够对计算机芯片进行硬度和强度测试，而且还能对计算机芯片进行清洁处理，使用起来很方便。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图；

图2是本实用新型的局部结构示意图；

附图标记中：1、硬度检测室；2、强度检测室；3、清理室；4、第一控制箱；5、第一液压缸；6、第一液压杆；7、尖角部；8、第一固定板；9、滑轨；10、硬度检测仪；11、第一芯片放置架；12、第二芯片放置架；13、滑轮；14、第二控制箱；15、第二液压缸；16、第二液压杆；17、压件板；18、第二固定板；19、强度检测仪；20、第三控制箱；21、电机；22、旋转轴；23、扇叶；24、第三固定板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。