[实用新型]校准规固定装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量仪器校准技术领域，具体而言，涉及一种校准规固定装置。

背景技术

目前，精密测量仪器(例如千分尺)用于待测量件的直径等尺寸的精密测量。在测量之前需要利用标准件(量块、轴类校准规等)对千分尺进行校准调零。其中，轴类校准规的尺寸基本固定，相比于组合量块测量更加精确。在现有技术中，在对千分尺进行校准时，先将千分尺固定在夹持表座上，再手持轴类校准规，在千分尺的两个测砧之间来回移动，进而对千分尺进行校准。然而，在上述校准过程中，操作者的手可能会触碰到轴类校准规的工作面，影响测量精度，同时手上的汗渍也可能会使轴类校准规生锈。此外，如果轴类校准规的尺寸较大，手持轴类校准规会不太容易稳定，从而使千分尺校准不够准确。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种校准规固定装置，以解决现有技术中的手持校准规对精密测量仪器进行校准时，校准不够准确的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种校准规固定装置，包括：底部固定主体，具有第一定位结构；支撑结构，设置在底部固定主体上；顶部固定主体，设置在支撑结构上并与底部固定主体间隔设置，顶部固定主体具有第二定位结构，第一定位结构与第二定位结构相对设置以共同夹持校准规。

进一步地，第二定位结构相对于第一定位结构可移动地设置，以使第二定位结构具有与第一定位结构共同夹持校准规的第一位置以及与校准规相分离的第二位置。

进一步地，校准规固定装置还包括压紧结构，当第二定位结构处于第一位置后，压紧结构能够对第二定位结构施加向下的力以使第二定位结构压紧校准规。

进一步地，顶部固定主体与支撑结构枢转连接。

进一步地，压紧结构包括拉伸件，拉伸件连接在顶部固定主体与底部固定主体之间，以将顶部固定主体及第二定位结构拉向底部固定主体。

进一步地，压紧结构包括压缩件，压缩件的两端分别与顶部固定主体和第二定位结构相配合，以对第二定位结构施加向下的力。

进一步地，压紧结构还包括设置在顶部固定主体上的导向套筒，压缩件沿导向套筒的轴向方向设置在导向套筒内。

进一步地，第二定位结构连接在压缩件远离顶部固定主体的一端，压紧结构还包括限位结构，限位结构用于限制第二定位结构相对于导向套筒的移动行程。

进一步地，限位结构包括：限位挡板，设置在第二定位结构或压缩件上；限位槽，设置在导向套筒的筒壁上，限位挡板伸入至限位槽内并与限位槽相配合，以限制第二定位结构的移动行程。

进一步地，第一定位结构为向上凸出于底部固定主体的定位凸台，第二定位结构为定位柱。

应用本实用新型的技术方案，底部固定主体具有第一定位结构，顶部固定主体具有第二定位结构，支撑结构设置在底部固定主体上，顶部固定主体设置在支撑结构上并与底部固定主体间隔设置。当对校准规进行固定时，将校准规置于第一定位结构与第二定位结构之间，通过相对设置的第一定位结构与第二定位结构共同夹持校准规，以将该校准规固定住，再将精密测量仪器与校准规相配合，并对校准规进行测量，从而实现对精密测量仪器的校准，又由于校准规固定稳定，这样可以使校准更加准确，并且可以防止操作者手上的汗渍使校准规生锈。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本实用新型的校准规固定装置的实施例一的结构示意图；以及

图2示出了根据本实用新型的校准规固定装置的实施例二的结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、底部固定主体；20、第一定位结构；30、支撑结构；40、顶部固定主体；50、第二定位结构；60、拉伸件；71、压缩件；72、导向套筒；81、限位挡板；82、限位槽；90、避让孔。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。