[实用新型]一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置有效

专利信息
申请号: 201621425963.7 申请日: 2016-12-23
公开(公告)号: CN206311121U 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 周丹丹;郑香萍 申请(专利权)人: 南京菲隆科技有限公司
主分类号: G01D11/00 分类号: G01D11/00
代理公司: 南京常青藤知识产权代理有限公司32286 代理人: 毛洪梅
地址: 210000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 精密 铝镍钴 磁铁 双面 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置,其特征在于:包括平板玻璃a(1)、定位检测板(3)和检测通孔(4);平板玻璃a(1)的上平面上安装有定位检测板(3),定位检测板(3)上设置有检测通孔(4),检测通孔(4)内放置有待检铝镍钴磁铁片(5);待检铝镍钴磁铁片(5)的厚度大于定位检测板(3)的厚度;该装置还包括一个能够将检测通孔(4)盖住的平板玻璃b(2)。

2.根据权利要求1所述的一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置,其特征在于:平板玻璃a(1)与平板玻璃b(2)大小形状相同。

3.根据权利要求1所述的一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置,其特征在于:平板玻璃a(1)与平板玻璃b(2)表面的平面度优于0.1毫米。

4.根据权利要求1所述的一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置,其特征在于:定位检测板(3)为圆环形,定位检测板(3)上以定位检测板(3)的圆心为中心阵列设置有至少两个检测通孔(4)。

5.根据权利要求1所述的一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置,其特征在于:定位检测板(3)和平板玻璃a(1)通过胶水粘接连接。

6.根据权利要求1所述的一种精密铝镍钴磁铁片双面检测翻面装置,其特征在于:定位检测板(3)的平面度优于0.15毫米。

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