[实用新型]微小电子元件测试分光设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED分光设备,尤其是一种微小电子元件测试分光设备。

背景技术

分光机是发光二极管(又称LED)在生产过程中必需的设备，它用来对LED按照发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类筛选；分光机一般包括上料模块、转盘模块、测试模块和落料模块，电子元件经上料模块上料至转盘模块，然后通过转盘模块输送至测试模块测试后，最后落入相应的料箱中；但是，目前的分光机只适用于体积较大的LED芯片的测试，对于较小体积的LED芯片则不适用，会出现测试精度不够，运行不稳定的状况，测试的故障率较高，尤其是现在市面上的微小材料的LED芯片，有五个发光面，且铜箔只存在于一个面上，现有的分光机根本无法顺利对其进行测试，于是人们便尝试研发出适合于微小材料的LED芯片测试的分光机，但是由于技术的缺陷，适合这种微小材料的LED芯片的分光机尚不成熟，市面上尚没有较完善的适合微小材料的分光机。

实用新型内容

为了克服上述问题，本实用新型向社会提供一种测试精度更高的、运行更加稳定的、适合于微小材料的LED芯片的测试的微小电子元件测试分光设备。

本实用新型的技术方案是：提供一种微小电子元件测试分光设备，包括机架、设置在机架上的上料模块、设置在上料模块后的转盘模块、对转盘模块上的电子元件进行测试的测试模块，以及落料模块，转盘模块包括数个侧吸附式吸嘴，侧吸附式吸嘴包括吸嘴本体和用于放置被检测元件的吸嘴托板，所述吸嘴本体设置在所述吸嘴托板的上表面，且所述吸嘴托板部分伸出于所述吸嘴本体的前端，所述吸嘴本体内设有用于与气源相接的气体通道，所述气体通道的被测元件接触端所在的平面与吸嘴托板相垂直，所述吸嘴托板的至少与被检测元件接触的部位是由透光材料制成的；

测试模块包括两两垂直的X轴驱动单元、Y轴驱动单元和Z轴驱动单元，以及设在Z轴驱动单元上的探针检测组件，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。

作为对本实用新型的改进，在气体通道的端口的一侧设有用于限定被测元件的位置的挡块。

作为对本实用新型的改进，所述吸嘴本体通过第一螺钉固定在所述吸嘴托板上。

作为对本实用新型的改进，所述吸嘴托板包括底板、垫圈和用于与被检测元件接触的接触板，所述底板上设有与所述接触板相吻合的容置部，所述接触板通过所述垫圈设置在所述容置部内。

作为对本实用新型的改进，所述接触板是由透光材料制成的。

作为对本实用新型的改进，所述底板是由陶瓷材料制成的。

作为对本实用新型的改进， 所述底板和接触板上分别设有销孔，所述接触板通过插销固定在所述底板的容置部内。

作为对本实用新型的改进，所述Z轴驱动单元包括伺服电机和与伺服电机的输出轴连接的凸轮结构，所述凸轮结构在伺服电机的驱动下带动探针沿滑轨移动。

本实用新型由于包括机架、设置在机架上的上料模块、设置在上料模块后的转盘模块、对转盘模块上的电子元件进行测试的测试模块，以及落料模块，转盘模块包括数个侧吸附式吸嘴，本实用新型适用于微小材料的LED芯片的测试，因此，本实用新型具有测试精度更高的、运行更加稳定的、适合于微小材料的LED芯片的测试的优点。

附图说明

图1是本实用新型的一种实施例的立体结构示意图。

图2是图1中的转盘模块的结构示意图。

图3是图2中的侧吸附式吸嘴的结构示意图。

图4是图1中的测试模块的结构示意图。

图5是图4另外一个视角的结构示意图。

图6是图1的另外一个视角的结构示意图。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。