[实用新型]测试头接口电路及耗材芯片读写处理系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片处理技术，尤其涉及一种测试头接口电路及耗材芯片读写处理系统。

背景技术

耗材芯片是设置在打印耗材上用于存储与打印耗材相关信息的芯片，例如耗材型号、生产日期、剩余量、打印页数等信息，对耗材芯片出厂前的读写处理是保证芯片品质的重要处理环节。

耗材芯片读写处理系统包含了耗材芯片以及对耗材芯片进行读写操作的烧录仪。在对耗材芯片进行读写处理前，需要确保烧录仪的测试头接口电路中的测试头探针与耗材芯片上的芯片触点完全接触，以保证接触后烧录仪对耗材芯片的可靠读写处理。但是，现有技术中，测试头探针与耗材芯片触点接触通电后，烧录仪内的测试程序就开始对耗材芯片进行读写处理了，在此过程中，若发生读写失败，则很难确定是因为测试头探针与耗材芯片触点未完全接触所导致的失败还是耗材芯片本身的故障所致。因此，需要反复测试，反复读写，费时费力，严重影响了耗材芯片的读写效率。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试头接口电路及耗材芯片读写处理系统，以解决现有技术中测试头探针与耗材芯片上的芯片触点未完全接触导致芯片读写失败的问题。

本实用新型一个方面提供一种测试头接口电路，包括：

用于感知电压变化的测试端子，所述测试端子设置在所述测试头接口电路的单片机上；

所述测试头接口电路中的各个端子与耗材芯片的各个端子对应接触通电，以使所述测试端子处的电平发生跳变。

可选的，还包括：

测试头VCC探针端子、开关端子；所述开关端子连接有开关元件；

所述开关元件设置在所述测试头VCC探针端子与所述测试端子之间；

所述开关元件闭合，所述测试端子与所述测试头VCC探针端子电气连通；

所述开关元件断开，所述测试端子与所述测试头VCC探针端子电气断开。

可选的，所述测试端子为所述测试头内单片机的中断端子；

在所述中断端子与所述开关元件之间设置有电压比较电路；

所述电压比较电路包括：电压比较器、分压电阻电路；

所述电压比较器的负极与所述开关元件连接，所述电压比较器的正极与所述分压电阻电路连接。

可选的，所述电压比较电路与所述开关元件之间连接有滤波电路；

所述滤波电路包括RC滤波电路；

所述RC滤波电路包括：并联连接的第一电阻与第一电容；

或者，

所述滤波电路还包括MOS管电路，所述MOS管电路设置在所述RC滤波电路与所述开关元件之间。

可选的，所述测试端子为所述测试头内单片机的模数转换端子

所述模数转换端子与所述开关元件连接

可选的，所述模数转换端子与所述开关元件之间连接有滤波电路；

所述滤波电路包括RC滤波电路；

所述RC滤波电路包括：并联连接的第一电阻与第一电容；

或者，

所述滤波电路还包括MOS管电路，所述MOS管电路设置在所述RC滤波电路与所述开关元件之间。

本实用新型另一个方面还提供一种测试头接口电路，包括：

用于感知电压变化的测试端子，耗材芯片的各个端子与所述测试头接口电路中的各个端子对应接触通电，以使所述测试端子处的电平发生跳变；

所述测试端子为所述测试头内单片机的中断端子；

所述测试端子由一个电源供电，并设置有上拉电阻；

所述测试端子未与耗材芯片相接触时，所述测试端子处电平为高电平；

所述测试端子与所述耗材芯片的第一端子相接触时，所述测试端子处的电平发生跳变；其中，所述第一端子为所述耗材芯片上与芯片接地端子相连接的端子。

本实用新型再一个方面还提供一种耗材芯片读写处理系统，包括：耗材芯片、上述任一项所述的测试头接口电路；

所述耗材芯片的各个端子与所述测试头接口电路中的各个端子对应接触，以使所述测试端子处的电平发生跳变；

所述测试头接口电路包含有单片机，所述单片机接收到所述测试端子的电平跳变信号，判断所述耗材芯片与所述测试头接口电路已接触后，启动对所述耗材芯片的读写操作。

可选的，所述耗材芯片包括：芯片电源端子、芯片数据端子、芯片时钟端子、芯片接地端子；