[实用新型]测试头接口电路及耗材芯片读写处理系统有效
| 申请号: | 201621275098.2 | 申请日: | 2016-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN206223928U | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
| 发明(设计)人: | 陈竞豪 | 申请(专利权)人: | 珠海艾派克微电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 杨文娟,刘芳 |
| 地址: | 519075 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 接口 电路 耗材 芯片 读写 处理 系统 | ||
1.一种测试头接口电路,其特征在于,包括:
用于感知电压变化的测试端子,所述测试端子设置在所述测试头接口电路的单片机上;
所述测试头接口电路中的各个端子与耗材芯片的各个端子对应接触通电,以使所述测试端子处的电平发生跳变。
2.根据权利要求1所述测试头接口电路,其特征在于,还包括:
测试头VCC探针端子、开关端子;所述开关端子连接有开关元件;
所述开关元件设置在所述测试头VCC探针端子与所述测试端子之间;
所述开关元件闭合,所述测试端子与所述测试头VCC探针端子电气连通;
所述开关元件断开,所述测试端子与所述测试头VCC探针端子电气断开。
3.根据权利要求2所述的测试头接口电路,其特征在于,
所述测试端子为所述测试头内单片机的中断端子;
在所述中断端子与所述开关元件之间设置有电压比较电路;
所述电压比较电路包括:电压比较器、分压电阻电路;
所述电压比较器的负极与所述开关元件连接,所述电压比较器的正极与所述分压电阻电路连接。
4.根据权利要求3所述的测试头接口电路,其特征在于,
所述电压比较电路与所述开关元件之间连接有滤波电路;
所述滤波电路包括RC滤波电路;
所述RC滤波电路包括:并联连接的第一电阻与第一电容;
或者,
所述滤波电路还包括MOS管电路,所述MOS管电路设置在所述RC滤波电路与所述开关元件之间。
5.根据权利要求2所述的测试头接口电路,其特征在于,
所述测试端子为所述测试头内单片机的模数转换端子
所述模数转换端子与所述开关元件连接。
6.根据权利要求5所述的测试头接口电路,其特征在于,
所述模数转换端子与所述开关元件之间连接有滤波电路;
所述滤波电路包括RC滤波电路;
所述RC滤波电路包括:并联连接的第一电阻与第一电容;
或者,
所述滤波电路还包括MOS管电路,所述MOS管电路设置在所述RC滤波电路与所述开关元件之间。
7.一种测试头接口电路,其特征在于,包括:
用于感知电压变化的测试端子,耗材芯片的各个端子与所述测试头接口电路中的各个端子对应接触通电,以使所述测试端子处的电平发生跳变;
所述测试端子为所述测试头内单片机的中断端子;
所述测试端子由一个电源供电,并设置有上拉电阻;
所述测试端子未与耗材芯片相接触时,所述测试端子处电平为高电平;
所述测试端子与所述耗材芯片的第一端子相接触时,所述测试端子处的电平发生跳变;其中,所述第一端子为所述耗材芯片上与芯片接地端子相连接的端子。
8.一种耗材芯片读写处理系统,其特征在于,包括:耗材芯片、权利要求1~7中任一项所述的测试头接口电路;
所述耗材芯片的各个端子与所述测试头接口电路中的各个端子对应接触,以使所述测试端子处的电平发生跳变;
所述测试头接口电路包含有单片机,所述单片机接收到所述测试端子的电平跳变信号,判断所述耗材芯片与所述测试头接口电路已接触后,启动对所述耗材芯片的读写操作。
9.根据权利要求8所述的耗材芯片读写处理系统,其特征在于,
所述耗材芯片包括:芯片电源端子、芯片数据端子、芯片时钟端子、芯片接地端子;
所述芯片电源端子与所述芯片数据端子之间、所述芯片数据端子与所述芯片接地端子之间、所述芯片电源端子与所述芯片时钟端子之间、所述芯片时钟端子与所述芯片接地端子之间,分别连接有反向二极管。
10.根据权利要求9所述的耗材芯片读写处理系统,其特征在于,所述耗材芯片还包括第一端子,所述第一端子与所述芯片接地端子连接。
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