[实用新型]面板结构与检测系统

说明书

技术领域

本实用新型是涉及一种检测用的工件，特别是涉及一种检测用的面板结构以及检测系统。

背景技术

电子产品在制作、包装、测试、搬运乃至最终装配和使用时，随时都有遭受静电放电的破坏而造成无法正常运作的可能。因此，需多电子产品上会设置静电防护相关的结构或是元件。然而，电子产品的制作过程包括许多的程序与步骤，在部分的程序与步骤中，半成品或成品上不一定有静电防护结构或是元件的保护，这导致制作过程中的静电破坏现象无法有效被防止。有时，基于制作程序与机台设备的限制，不一定可以在每一个制作程序后立即安排检测步骤以检测静电放电的损坏是否发生。因此，在静电放电的损坏发生之后直到检测到损坏的期间，可能已继续进行了部分的程序，这导致成本与制作工艺时间上的损耗。此外，即便是存在有静电防护结构或是元件，制作过程中最好仍是将静电累积现象控制在安全的范围，才得以确保制作工艺良率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种面板结构，用以检测制作工艺环境中的静电产生情形。

本实用新型的再一目的在于提供一种检测系统，可监控制作工艺环境中的静电产生情形以反馈给制作工艺条件的调整与控制，用于降低静电造成的损坏现象。

为达上述目的，本实用新型提供一种面板结构，其包括第一基板、检测构件以及信号传输单元。检测构件配置于第一基板上，且检测构件彼此独立地位于不同检测面积中。各检测构件包括以一介电结构分隔的一第一检测电极以及一第二检测电极，且各检测构件的第一检测电极与第二检测电极在对应的检测面积内重叠设置。信号传输单元电连通于检测构件，以记录检测构件的电信号。

在本实用新型的一实施例中，上述的各检测构件所包括的第一检测电极与第二检测电极实质上彼此平行。

在本实用新型的一实施例中，上述的介电结构包括多个独立的介电层单元。各介电层单元设置于其中一个检测构件的第一检测电极与第二检测电极之间并独立于其他介电层单元。

在本实用新型的一实施例中，上述的介电结构包括一介电层。检测构件的个别第一检测电极设置于介电层的一第一表面，且检测构件的个别第二检测电极设置于介电层的一第二表面。第一表面与第二表面彼此相对。

在本实用新型的一实施例中，上述的面板结构还包括多个功能构件，其中功能构件设置于第一基板上，位于一功能区内。检测构件位于功能区周边。

在本实用新型的一实施例中，上述的功能构件包括显示元件、发光元件、触控元件、感测元件或其组合。

在本实用新型的一实施例中，上述的各检测构件的第一检测电极与第二检测电极各自为金属层。

在本实用新型的一实施例中，上述的面板结构还包括一第二基板。检测构件设置于第一基板与第二基板之间。

本实用新型还提供一种检测系统，其包括前述的面板结构以及信号处理装置。面板结构中的信号传输单元将所记录的检测构件的电信号传输给信号处理装置，供信号处理装置分析检测构件的电信号。

在本实用新型的一实施例中，上述的信号传输单元与信号处理装置以无线传输方式传输检测构件的电信号。

基于上述，本实用新型的优点在于，采用设置有多个检测构件的面板结构来检测生产制作过程中发生的静电累积现象。将检测系统的检测结果反馈至制作条件的调整，有助于降低静电在制作过程中过度累积造成静电放电而损坏构件的机率。

为让本实用新型能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的检测系统的示意图；

图2为本实用新型的一实施例的检测方法；

图3为本实用新型另一实施例的面板结构的示意图；

图4为本实用新型的一实施例的面板结构的局部剖面示意图；

图5为本实用新型的另一实施例的面板结构的局部剖面示意图；

图6为本实用新型的再一实施例的面板结构的局部剖面示意图；

图7为本实用新型的又一实施例的面板结构的局部剖面示意图。

符号说明

10：检测系统

100、100’、100A、100B、100C、100D：面板结构

110、150：基板

120：检测构件

122：第一检测电极

124：第二检测电极

130：信号传输单元

140：功能构件

200：信号处理装置

AA：功能区