[实用新型]面板结构与检测系统有效
申请号: | 201621157881.9 | 申请日: | 2016-10-31 |
公开(公告)号: | CN206331047U | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 庄博全;陈俊廷;李正南;唐敏注;汤士源 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 面板 结构 检测 系统 | ||
1.一种面板结构,其特征在于,所述面板结构包括:
第一基板;
多个检测构件,配置于所述第一基板上,且所述检测构件彼此独立地位于不同检测面积中,其中各所述检测构件包括以介电结构分隔的第一检测电极以及第二检测电极,且各所述检测构件的所述第一检测电极与所述第二检测电极在对应的检测面积内重叠设置;以及
信号传输单元,电连通于所述检测构件,以记录所述检测构件的电信号。
2.如权利要求1所述的面板结构,其特征在于,各所述检测构件所包括的所述第一检测电极与所述第二检测电极彼此平行。
3.如权利要求1所述的面板结构,其特征在于,所述介电结构包括多个独立的介电层单元,各介电层单元设置于其中一个检测构件的所述第一检测电极与所述第二检测电极之间并独立于其他介电层单元。
4.如权利要求1所述的面板结构,其特征在于,所述介电结构包括介电层,所述检测构件的个别第一检测电极设置于所述介电层的第一表面,所述检测构件的个别第二检测电极设置于所述介电层的第二表面,且所述第一表面与所述第二表面彼此相对。
5.如权利要求1所述的面板结构,其特征在于,所述面板结构还包括多个功能构件,设置于所述第一基板上,位于功能区内,且所述检测构件位于所述功能区周边。
6.如权利要求5所述的面板结构,其特征在于,所述功能构件包括显示元件、发光元件、触控元件、感测元件或其组合。
7.如权利要求1所述的面板结构,其特征在于,各所述检测构件的所述第一检测电极与所述第二检测电极各自为金属层。
8.如权利要求1至7中任一项所述的面板结构,其特征在于,所述面板结构还包括第二基板,且所述检测构件设置于所述第一基板与所述第二基板之间。
9.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:
如权利要求1至8中任一项所述的面板结构;以及
信号处理装置,所述信号传输单元将所记录的所述检测构件的电信号传输给所述信号处理装置,供所述信号处理装置分析所述检测构件的电信号。
10.如权利要求9所述的检测系统,其特征在于,所述信号传输单元与所述信号处理装置以无线传输方式传输所述检测构件的电信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人工业技术研究院,未经财团法人工业技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201621157881.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:功率器件损耗测试系统
- 下一篇:一种热解焚烧炉