[实用新型]一种用于校准测高仪的标准装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种校准装置，具体涉及一种用于校准测高仪的标准装置，属于检测与测量技术领域。

背景技术

测高仪是立式单坐标数字化几何量测量仪器，可用来测量平行平面之间的距离、空、和轴直径、中心距以及相关形位误差等。测高仪测量结果的准确程度直接影响产品的质量，因此，测高仪必须定期校准。

目前，测高仪常用的校准方法是用量块校准，但量块立式放置存在容易晃动、重心不稳问题，且量块受环境温度影响大、维护成本高。

因此，需要对测高仪的校准装置进行改进，以便提高校准准确性，提高操作的方便性。

发明内容

本实用新型针对现有的技术问题，提供一种用于校准测高仪的标准装置，该装置结构简单、稳定性好、使用方便等优点，拟解决现有技术存在的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于校准测高仪的标准装置，其包括直角三角形的花岗石基体，所述的花岗石基体上设有通孔，所述的花岗石基体的斜边上等间隔设置有5个平行于所述的花岗石基体的短直角边的小工作平面，其中，所述的花岗石基体的长直角边的长度为420mm，短直角边的长度为210mm，所述的花岗石基体的厚度为50mm，所述的花岗石基体的两个直角边平面和5个小工作平面的平面度应不大于0.003mm。

进一步，作为优选，所述的花岗石基体上的通孔为多个。

进一步，作为优选，所述的花岗石基体的两个直角边的垂直度应不大于0.003mm。

进一步，作为优选，所述的花岗石基体的斜边上的5个小工作平面的表面粗糙度应不大于0.0001mm。

进一步，作为优选，花岗石硬度不低于70HS或52HRC。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型结构简单，容易实现，装置选用花岗石做为基体，优点是形变量小，膨胀系数小，不受外界受环境影响，装置采用三角形结构，克服了量块立置时稳定性差的问题。

附图说明

图1是本实用新型的一种用于校准测高仪的标准装置的结构示意图；

其中，1、花岗石基体，2、通孔，3、小工作平面。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种用于校准测高仪的标准装置，其包括直角三角形的花岗石基体1，所述的花岗石基体1上设有通孔2，所述的花岗石基体1的斜边上等间隔设置有5个平行于所述的花岗石基体的短直角边的小工作平面3，其中，所述的花岗石基体1的长直角边的长度为420mm，短直角边的长度为210mm，所述的花岗石基体的厚度为50mm，所述的花岗石基体1的两个直角边平面和5个小工作平面3的平面度应不大于0.003mm。

其中，为装置方便搬动，所述的花岗石基体上的通孔为多个。在本实施例中为两个。所述的花岗石基体的两个直角边的垂直度应不大于0.003mm。所述的花岗石基体的斜边上的5个小工作平面的表面粗糙度应不大于0.0001mm。

其中，花岗石硬度不低于70HS或52HRC。本实用新型的斜边上均匀分布五个平行于短直角边的小工作平面，小工作平面的平面度和与短直角边的平行度均有精度要求。

采用本实用新型的标准装置校准测高仪的过程如下：

将标准装置和被校准测高仪放置在符合要求的平台上，用测高仪测量5个小工作平面3的高度，与五个小工作平面3的校准值( 标准值) 进行比较，得到测高仪测量误差值。

本实用新型结构简单，容易实现，装置选用花岗石做为基体，优点是形变量小，膨胀系数小，不受外界受环境影响，装置采用三角形结构，克服了量块立置时稳定性差的问题。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。