[实用新型]一种用于校准测高仪的标准装置有效
| 申请号： | 201621002312.7 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN206488753U | 公开（公告）日： | 2017-09-12 |
| 发明（设计）人： | 陈龙;徐健;陶磊;周森;李钢;熊俊;颜宇;倪颖倩;刘彤 | 申请（专利权）人： | 重庆市计量质量检测研究院 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/02 |
| 代理公司： | 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙)11548 | 代理人： | 李静 |
| 地址： | 404100 重庆市渝北区杨柳北路1*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 校准 测高仪 标准 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于校准测高仪的标准装置，其包括直角三角形的花岗石基体，所述的花岗石基体上设有通孔，所述的花岗石基体的斜边上等间隔设置有5个平行于所述的花岗石基体的短直角边的小工作平面，其中，所述的花岗石基体的长直角边的长度为420mm，短直角边的长度为210mm，所述的花岗石基体的厚度为50mm，所述的花岗石基体的两个直角边平面和5个小工作平面的平面度应不大于0.003mm。
2.根据权利要求1所述的一种用于校准测高仪的标准装置，其特征在于：所述的花岗石基体上的通孔为多个。
3.根据权利要求1所述的一种用于校准测高仪的标准装置，其特征在于：所述的花岗石基体的两个直角边的垂直度应不大于0.003mm。
4.根据权利要求1所述的一种用于校准测高仪的标准装置，其特征在于：所述的花岗石基体的斜边上的5个小工作平面的表面粗糙度应不大于0.0001mm。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的一种用于校准测高仪的标准装置，其特征在于：花岗石硬度不低于70HS或52HRC。
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