[实用新型]半导体构件有效
申请号: | 201620780192.7 | 申请日: | 2016-07-22 |
公开(公告)号: | CN206236668U | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | P·文卡特拉曼;B·帕德玛纳伯翰;A·萨利 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/488;H01L23/49 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 构件 | ||
1.一种半导体构件,其特征在于包含:
支撑体(102,102A),具有表面(104)以及与所述支撑体(102,102A)集成于一体且从所述支撑体(102,102A)延伸出的第一引线(110,210);
与所述支撑体(102,102A)相邻且与所述支撑体(102,102A)电隔离的第二引线(108,208);
具有第一部分和第二部分的基板(116),所述基板(116)接合于所述支撑体(102,102A);
具有第一表面和第二表面的第一半导体芯片(10),其中第一接合焊盘(18)从所述第一表面的第一部分延伸出,第二接合焊盘(20)从所述第一表面的第二部分延伸出,以及第三接合焊盘(16A,16B)从所述第一表面的第三部分延伸出,所述第二表面接合于所述基板(116)的所述第一部分,其中所述第一半导体芯片(10)由III-N半导体材料配置;
具有第一端部和第二端部的第一电互连(134),所述第一电互连(134)的所述第一端部耦接于所述第一半导体芯片(10)的所述第一接合焊盘(18),并且所述第一电互连(134)的所述第二端部耦接于所述基板(116)的所述第二部分;
与所述第一电互连(134)的所述第二端部接合的第二半导体芯片(50,70);以及
具有第一端部和第二端部的第二电互连(136),所述第二电互连(136)的所述第一端部与所述第二引线(108)耦接,并且所述第二电互连(136)的所述第二端部与所述第二半导体芯片(70)耦接。
2.根据权利要求1所述的半导体构件,其特征在于,所述基板(116)是绝缘金属基板,所述基板包含:
第一导电材料层(124);
在所述第一导电材料层(124)上的电介质材料层(126);
形成于所述电介质材料层(126)的第一部分上的第二导电材料层(128A),其中所述第二导电材料层(128A)用作所述绝缘金属基板(116)的所述第一部分;以及
形成于所述电介质材料层(126)的第二部分上的第三导电材料层(128B),其中所述第三导电材料层(128B)用作所述绝缘金属基板(116)的所述第二部分(116B)。
3.根据权利要求2所述的半导体构件,其特征在于,还包含具有第一端部和第二端部的第三电互连(132),所述第三电互连(132)的所述第一端部与所述绝缘金属基板(116)的所述第一部分耦接并且所述第三电互连(132)的所述第二端部与所述第一半导体芯片(10)的所述第二接合焊盘(20)耦接。
4.根据权利要求3所述的半导体构件,其特征在于,所述第二半导体芯片(50,70)具有第一表面和第二表面,并且其中源极接合焊盘(58)由所述第一表面的第一部分形成,栅极接合焊盘(56)由所述第一表面的第二部分形成,并且漏极接触部(60)由所述第二表面形成,并且其中所述漏极接触部(60)被接合于所述第一电互连(134)的所述第二端部。
5.根据权利要求4所述的半导体构件,其特征还在于,所述第一电互连(134)的所述第二端部与所述第二半导体芯片(50)的所述源极接合焊盘(58)耦接,并且所述半导体构件还包含具有第一端部和第二端部的第三电互连(136),所述第三电互连(136)的所述第一端部与所述第二半导体芯片(50)的所述源极接合焊盘(58)耦接,并且所述第三电互连(136)的所述第二端部与所述第二引线(208)耦接。
6.根据权利要求3所述的半导体构件,其特征在于,所述第二半导体芯片(70)包含具有第一表面和第二表面的二极管,以及其中阳极(78)由所述第一表面形成,并且阴极(76)由所述第二表面形成,并且其中所述阴极(76)被接合于所述第一电互连(134)的所述第二端部。
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