[发明专利]一种ICP-AES检测元素的方法及其应用

说明书

本发明涉及元素检测领域，公开了一种ICP‑AES检测元素的方法及其应用，该方法包括：制作标准曲线，标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系；检测第m个标样的发射特征谱线的强度，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_m；检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y_测；检测第n个标样的发射特征谱线的强度，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_n；根据公式(1)计算试样含量最终值x。还涉及该方法在钢、铁合金或耐火材料元素检测中的应用，本发明的检测方法具有操作简便，检测快速等优点。

技术领域

本发明涉及元素检测领域，具体地，涉及一种ICP-AES检测元素的方法，以及该方法在钢、铁合金或耐火材料金属元素检测中的应用。

背景技术

现有ICP-AES检测方法为在选定的参数条件下，先用标样或标液测定工作曲线，然后用质控样校对工作曲线，校对时，用测定的工作曲线检测质控的结果与质控标准结果相近时，说明仪器稳定，用工作曲线直接检测试样结果。当用测定的工作曲线检测质控的结果与质控标准结果相差较大时，需重新测工作曲线。但当用ICP-AES方法检测高含量成分时，仪器波动性大，检测成分的含量越高，检测数据波动越大，用质控校正曲线斜率后，检测一个或两个试样后，又需要重新校正曲线斜率，造成用ICP-AES方法难以准确检测高含量成分，因此，很有必要研究一种用ICP-AES方法准确检测高含量成分的简便方法。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术中ICP-AES方法无法检测高含量金属元素的缺陷，提供一种ICP-AES检测元素的方法及其应用。

为了实现上述目的，本发明提供了一种ICP-AES检测元素的方法，其特征在于，该方法包括：

(1)以称取0.1000g试样为基准，用含有不同含量的待测元素的标样在ICP-AES上制作标准曲线，标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系；

(2)检测第m个标样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_m；

(3)检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y_测；

(4)检测第n个标样的发射特征谱线的强度，得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量，计算该待测元素的标准值与检测值的比值k_n；

(5)根据公式(1)计算试样含量最终值x；

另一方面，本发明还提供了上述方法在钢、铁合金或耐火材料元素检测中的应用。

采用本发明的元素检测方法，能够在钢、铁合金或耐火材料样品含有较高量的Nb、Cr、Cu、Mo、V、W、Al、Ti和Zr等元素时或者ICP-AES仪器波动性较大时，准确测定上述各金属元素的含量，另外，本发明的检测方法还具有操作简便，检测快速等优点。

本发明的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

具体实施方式

以下对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

本发明提供了一种ICP-AES检测元素的方法，该方法包括：

(1)以称取0.1000g试样为基准，用含有不同含量的待测元素的标样在ICP-AES上制作标准曲线，标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系；