[发明专利]一种ICP-AES检测元素的方法及其应用有效
申请号: | 201611258750.4 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN106596520B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 杨道兴 | 申请(专利权)人: | 攀钢集团江油长城特殊钢有限公司 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73 |
代理公司: | 11283 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王园园;严政<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 621701四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 icp aes 检测 元素 方法 及其 应用 | ||
1.一种ICP-AES检测元素的方法,其特征在于,该方法包括:
(1)以称取0.1000g试样为基准,用含有不同含量的待测元素的标样在ICP-AES上制作标准曲线,标准曲线表示待测元素含量与发射特征谱线的强度之间的对应关系;
(2)检测第m个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值km;
(3)检测质量为m’的试样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的试样中待测元素的含量y测;
(4)检测第n个标样的发射特征谱线的强度,得到该发射特征谱线的强度在标准曲线上所对应的待测元素的含量,计算该待测元素的标准值与检测值的比值kn;
(5)根据公式(1)计算试样含量最终值x;
样品中待测元素的含量为0.1-50重量%,
当k1与k2的差值绝对值大于1%且小于5%时,步骤(3)中仅测定1个试样就进行步骤(4),连续重复测定下去,重复的次数根据实际需要测定的试样决定,计算时,采用试样前后的两个k值的平均数校正该试样的测定值;
当k1与k2的差值绝对值小于1%时,步骤(3)中测定2-5个试样后再进行步骤(4),连续重复测定下去,重复的次数根据实际需要测定的试样决定,计算时,采用每个试样前后的两个k值的平均数校正每个试样的测定值。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述待测元素为金属元素。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述金属元素为Ca、Mg、Al、Ti、V、Nb、Ta、Cr、W、Mn、Fe、Ni、Co、La、Ce、Ag、Cu、Mo和Zr中的至少一种。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述待测元素为非金属元素。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述非金属元素为Si。
6.权利要求1-5中任意一项所述的方法在钢、铁合金或耐火材料金属元素检测中的应用。
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