[发明专利]一种正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法有效
| 申请号: | 201611252771.5 | 申请日: | 2016-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN106651927B | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
| 发明(设计)人: | 倪金生;李传广;刘文静;钱晓明;王红燕;苏晓玉 | 申请(专利权)人: | 北京航天泰坦科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/33 | 分类号: | G06T7/33;G06T7/35 |
| 代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 刘洪勋 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 射影 镶嵌 匹配 同名 点粗差 剔除 方法 | ||
1.一种正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:包括:
在待镶嵌的正射影像的镶嵌接边区域内划定镶嵌接边纠正范围:
在镶嵌接边纠正范围内匹配同名点;
对匹配完成的同名点对的残差进行计算;
设定粗差点剔除规则,将获得的同名点对按照所述粗差点剔除规则进行粗差点剔除;
其中,所述设定粗差点剔除规则包括:统计同名点残差值出现的概率,按照出现概率的大小顺序排列后,由概率从小到大对应的同名点对相加,其数量相加之和占总同名点对数的比例小于5%的同名点对是粗差点对,将所述粗差点对剔除。
2.根据权利要求1所述的正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:所述设定粗差点剔除规则具体包括:
统计同名点对的残差值,形成数值区间的集合;
将所述数值区间按照设定步长等分成若干子区间;
统计每个子区间内包含的残差值个数;
按照残差值个数的多少,将子区间从小到大排序并编号;
根据:计算,将该些子区间中的同名点对剔除,剩余同名点对参与计算变换模型参数;
其中所述“子区间残差值个数较少的同名点对数量之和”即为子区间按照其包含的残差值个数多少进行自小到大的排序,从第一个子区间开始向后依次将这些子区间内的同名点对数量相加。
3.根据权利要求2所述的正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:所述对匹配完成的同名点对的残差进行计算具体包括:
对于镶嵌接边区域内位于镶嵌线左侧正射影像上缓冲区内的任意一点地理坐标P1(X1,Y1),对应右侧正射影像的同名点地理坐标P1′(X1′,Y1′),则(ΔX,ΔY)为两同名点地理坐标差,有:
ΔX=X1-X1′,
ΔY=Y1-Y1′,
其中ΔX表示影像中该P1点X方向地理坐标差值,ΔY表示影像中该点Y方向地理坐标差值;ΔXY表示两同名点构成的同名点对的残差值。
4.根据权利要求3所述的正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:将所述数值区间按照设定步长等分成若干子区间具体包括:设定步长λ,统计ΔXY值种类数n;n为ΔXY最大值与ΔXY最小值之差与步长λ的比值,即
5.根据权利要求4所述的正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:所述统计每个子区间内包含的残差值个数具体包括:
统计每一种类中的ΔXY值的数量值m,依次为m1,m2,……mk(k=1,2,……n),式中mk是第k种残差值ΔXY的个数。
6.根据权利要求5所述的正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:按照残差值个数的多少,将子区间从小到大排序并编号具体包括:
统计各ΔXY值种类对应的m值并按照从小到大的顺序进行排序,然后依次编号为j1,j2,……,jk(k=1,2,……,n)。
7.根据权利要求6所述的正射影像镶嵌接边匹配的同名点粗差剔除方法,其特征在于:所述根据:计算,将该些子区间中的同名点对剔除,具体包括:
由各ΔXY值种类对应的m值得到的排序中,根据式
其中ji是编号ji对应的m的值,i=1,2,……,n;
剔除编号j1,j2,……,ji对应的ΔXY值的同名点对;
其中所述“子区间残差值个数较少的同名点对数量之和”即为子区间按照其包含的残差值个数多少进行自小到大的排序,从第一个子区间开始向后依次将这些子区间内的同名点对数量相加。
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