[发明专利]一种阵列基板、显示面板以及短路的检测方法有效

专利信息
申请号: 201611247168.8 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106707570B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 安立扬 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 黄瑜
地址: 518006 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 显示 面板 以及 短路 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种具有像素结构的阵列基板,其特征在于,所述像素结构包括依次排列的多个子像素,每一所述子像素包括电连接的主区、次区以及分压电容;其中,任一所述子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的所述次区的下方;所述多个子像素的最后一列子像素的后方或者最前一列子像素的前方设置至少一列检测用子像素。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素;

所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第三子像素或者所述第二子像素的所述次区的下方;

所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第一子像素或者所述第三子像素的所述次区的下方;

所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第二子像素或者所述第一子像素的所述次区的下方。

3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,每一所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素;

第N个所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第二子像素的所述次区的下方;

第N个所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第三子像素的所述次区的下方;

第N个所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N+1个所述第一子像素的所述次区的下方;

其中:N为大于或等于1的正整数。

4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,每一所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素;

第N个所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N-1个所述第三子像素的所述次区的下方;

第N个所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第一子像素的所述次区的下方;

第N个所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第二子像素的所述次区的下方;

其中:N为大于3的正整数。

5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,多个所述子像素包括奇数子像素和偶数子像素;

所述奇数子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述偶数子像素的所述次区的下方;

所述偶数子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述奇数子像素的所述次区的下方。

6.一种显示面板,其包括阵列基板,其特征在于,所述阵列基板为权利要求1-5任一项所述的阵列基板。

7.一种显示面板的分压电容电极短路的检测方法,所述显示面板的像素结构包括依次排列的多个子像素,每一所述子像素包括主区、次区以及分压电容,其特征在于,所述检测方法包括:

将所述显示面板的像素结构中的子像素的分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的次区的下方;

给相邻的所述子像素提供不同的电平信号;

对所述子像素的短路情况进行检查。

8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,多个所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素;

所述给相邻的所述子像素提供不同的电平信号包括:

给所述第一子像素提供第一电平信号;

给所述第二子像素提供第二电平信号;

给所述第三子像素提供第三电平信号;

其中,所述第一电平信号、所述第二电平信号和所述第三电平信号之间的差值大于10V;所述第一电平信号、所述第二电平信号和所述第三电平信号同为正信号或者负信号或者分别为正信号和负信号。

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