[发明专利]显示模组点灯测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611245880.4 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106771974B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 安泰生 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G05B19/042
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 显示 模组 点灯 测试 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种显示模组点灯测试装置及方法,该装置用于对待测显示模组进行点灯测试,包括:存储器、外围电路及现场可编程门阵列芯片,其中,现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器,微处理器用于输出初始化信息,且微处理器连接显示界面控制器,现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组,以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作,并输出处理后的图片数据至待测显示模组,从而对待测显示模组进行点灯测试。通过上述方式,本发明能够简化点灯测试装置的硬件部分,减少外围电路设计,降低电子元器件的使用数量,提升点灯装置的稳定性,方便研发人员维护。

技术领域

本发明涉及显示领域,特别是涉及一种显示模组点灯测试装置及方法。

背景技术

目前小尺寸面板厂商在手机面板组成模组后,会对手机模组进行相应的功能测试,例如模组光学的品味,模组整体的功耗,伽马调试等测试。这些相关测试都需要模组点灯测试平台来实现,大多数小尺寸面板厂商所采用的点灯测试装置的中的元器件数量较多,成本比较高,且容易影响模组测试的进度。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种显示模组点灯测试装置及方法,能够简化点灯测试装置的硬件部分,减少外围电路设计,降低电子元器件的使用数量,提升点灯装置的稳定性,方便研发人员对点灯测试装置的维护。

为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种显示模组点灯测试装置,用于对待测显示模组进行点灯测试,包括:存储器,用于存储进行点灯测试所需的图片数据;外围电路,接收用户指令并根据用户指令而输出对应的控制指令;现场可编程门阵列芯片(Field-Programmable Gate Array,FPGA),与存储器与外围电路连接以接收图片数据和控制指令,根据控制指令而产生对应的控制参数,并根据控制参数对图片数据进行处理以输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组,从而对待测显示模组进行点灯测试;其中,现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器,微处理器用于输出初始化信息,且微处理器连接显示界面控制器,现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组,以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作,并输出处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至待测显示模组,从而对待测显示模组进行点灯测试。

其中,现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器中配置有用户指令,且微处理器通过总线接口而连接外围电路,以将用户指令输出至外围电路。

其中,外围电路进一步连接至一个用于供用户输入用户指令的控制装置,以通过外围装置而接收用户指令。

其中,现场可编程门阵列芯片内进一步包括:存储控制器,与存储器连接以读取存储器内存储的图片数据;I2C(Inter Integrated Circuit)从控制器,与外围电路连接以接收外围电路所输出的控制指令;参数配置控制器,与I2C从控制器连接以根据控制指令而产生对应的控制参数;图片产生器;PG产生器,其中,图片产生器和PG产生器分别与存储控制器连接以分别接收存储器所输出的图片数据,且图片产生器和PG产生器进一步分别与参数配置控制器,以分别根据控制参数而对图片数据进行处理;模式选择控制器,分别连接图片产生器和PG产生器,以根据其选择的工作模式而选择图片产生器和PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出,且模式选择控制器进一步连接显示界面控制器,以通过显示界面控制器而输出选择的图片产生器和PG产生器之一所输出的处理后图片数据至待测显示模组。

其中,模式选择控制器进一步连接微处理器以接收微处理器所输出的模式选择指令并根据模式选择指令而工作在对应的工作模式下。

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