[发明专利]显示模组点灯测试装置及方法有效
| 申请号: | 201611245880.4 | 申请日: | 2016-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN106771974B | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
| 发明(设计)人: | 安泰生 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G05B19/042 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李庆波 |
| 地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 模组 点灯 测试 装置 方法 | ||
1.一种显示模组点灯测试装置,用于对待测显示模组进行点灯测试,其特征在于,包括:
存储器,用于存储进行所述点灯测试所需的图片数据;
外围电路,接收用户指令并根据所述用户指令而输出对应的控制指令;
现场可编程门阵列芯片,与所述存储器与所述外围电路连接以接收所述图片数据和所述控制指令,根据所述控制指令而产生对应的控制参数,并根据所述控制参数对所述图片数据进行处理以输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组,从而对所述待测显示模组进行点灯测试;
其中,所述现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器,所述微处理器用于输出初始化信息,且所述微处理器连接所述显示界面控制器,所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示界面控制器而连接所述待测显示模组,以输出所述初始化信息至所述待测显示模组从而对所述待测显示模组进行初始化操作,并输出处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据至所述待测显示模组,从而对所述待测显示模组进行点灯测试;
所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括:
存储控制器,与所述存储器连接以读取所述存储器内存储的所述图片数据;
I2C从控制器,与所述外围电路连接以接收所述外围电路所输出的所述控制指令;
参数配置控制器,与所述I2C从控制器连接以根据所述控制指令而产生对应的控制参数;
图片产生器;
PG产生器,其中,所述图片产生器和所述PG产生器分别与所述存储控制器连接以分别接收所述存储器所输出的所述图片数据,且所述图片产生器和所述PG产生器进一步分别与所述参数配置控制器,以分别根据控制参数而对所述图片数据进行处理;
模式选择控制器,分别连接所述图片产生器和所述PG产生器,以根据其选择的工作模式而选择所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据作为处理后的所述待测显示模组进行点灯测试所需的图片数据进行输出,且所述模式选择控制器进一步连接所述显示界面控制器,以通过所述显示界面控制器而输出选择的所述图片产生器和所述PG产生器之一所输出的处理后图片数据至所述待测显示模组。
2.根据权利要求1所述的点灯测试装置,其特征在于,
所述现场可编程门阵列芯片内集成的所述微处理器中配置有所述用户指令,且所述微处理器通过总线接口而连接所述外围电路,以将所述用户指令输出至所述外围电路。
3.根据权利要求1所述的点灯测试装置,其特征在于,
所述外围电路进一步连接至一个用于供用户输入所述用户指令的控制装置,以通过所述外围装置而接收所述用户指令。
4.根据权利要求1所述的点灯测试装置,其特征在于,
所述模式选择控制器进一步连接所述微处理器以接收所述微处理器所输出的模式选择指令并根据所述模式选择指令而工作在对应的工作模式下。
5.根据权利要求4所述的点灯测试装置,其特征在于,进一步包括:
功率控制模块,其连接在所述现场可编程门阵列芯片与所述待测显示模组之间,以接收所述现场可编程门阵列芯片所输出的功率控制参数,并根据所述功率控制参数而输出对应的电源电压至所述待测显示模组,以控制所述待测显示模组在不同功率下进行点灯测试。
6.根据权利要求5所述的点灯测试装置,其特征在于,所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括:
功率控制器,其与所述参数配置控制器和所述功率控制模块连接,其中,所述参数配置控制器所产生的所述控制参数包括所述功率控制参数,所述功率控制器接收所述功率控制参数,并根据所述功率控制参数而产生对应的功率控制指令,并将其输出至所述功率控制模块以控制所述功率控制模块输出对应的电源电压。
7.根据权利要求1所述的点灯测试装置,其特征在于,
所述存储器包括SD卡和至少一个DDR存储器。
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