[发明专利]纳米级自动光学检测系统

说明书

本发明公开了一种纳米级自动光学检测系统，其包括：第一、二光学检测机构，第一、二光学检测镜头采用工业级相机，并且第二光学检测镜头的像素大于第一光学检测镜头；于第一、二光学检测机构旁侧设置有移送机构，移送机构旁设置有用于收料夹，且第一、二光学检测机构、移送机构、收料夹安装在机台上方；通过移送机构的机械手将被检测产品在第一、二光学检测机构、收料夹之间移动。本发明采用了二级自动光学检测机构，通过第一光学检测机构首先进行初步的检测，筛检出初步合格的产品后，再通过第二光学检测机构进行进一步的检测。同时，通过移送机构的机械手将被检测产品在第一光学检测机构、第二光学检测机构和收料夹之间移动，以实现自动化作业。

技术领域：

本发明涉及自动化检测设备技术领域，特指一种纳米级自动光学检测系统。

背景技术：

AOI(Automatic Optic Inspection)的全称是自动光学检测，是基于光学原理来对产品生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI是新兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。

现有的光学检测设备功能单一，检测的精度、效率不高，有鉴于此，本发明人提出以下技术方案。

发明内容：

本发明所要解决的技术问题就在于克服现有技术的不足，提供一种纳米级自动光学检测系统。

为了解决上述技术问题，本发明采用了下述技术方案：该纳米级自动光学检测系统包括：第一光学检测机构，该第一光学检测机构包括：第一光学检测镜头和位于第一光学检测镜头下方的入料轨道，于所述的入料轨道上设置有可沿该入料轨道移动的入料载具；第二光学检测机构，该第二光学检测机构包括：第二光学检测镜头和位于第二光学检测镜头下方的检测轨道，于所述的检测轨道上设置有可沿检测轨道移动的检测载具；所述的第一、二光学检测镜头采用工业级相机，并且第二光学检测镜头的像素大于第一光学检测镜头；于所述的第一、二光学检测机构旁侧设置有移送机构，所述的移送机构旁设置有收料夹，且第一、二光学检测机构、移送机构、收料夹安装在机台上方；所述的移送机构包括一机械手和移送轨道，所述的机械手可滑动安装在移送轨道上，通过移送机构的机械手将被检测产品在第一光学检测机构、第二光学检测机构和收料夹之间移动。

进一步而言，上述技术方案中，所述的第一光学检测机构中的入料载具安装在一入料检测平台上，该入料检测平台与入料轨道配合，并通过驱动机构带动沿入料轨道实现在X轴方向上运行；于入料检测平台侧边还设置有入料校准压板，该入料校准压板通过入料校准驱动机构驱动实现在Y/Z轴上的运行。

进一步而言，上述技术方案中，所述的第一光学检测镜头安装在第一镜头座上，该第一镜头座通过第一镜头驱动机构设置在机台上的第一检测基座上。

进一步而言，上述技术方案中，所述的第二光学检测机构中的检测载具安装在一检测平台上，所述的检测轨道包括：横向检测轨道和纵向检测轨道，其中横向检测轨道与检测平台配合，并且横向检测轨道的底座与纵向检测轨道配合，该横、纵向检测轨道、在驱动机构带动下实现检测平台在X/Y轴方向上的运行；于检测平台侧边还设置有校准压板，该校准压板通过校准驱动机构驱动实现在Y/Z轴上的运行。

进一步而言，上述技术方案中，述的第二光学检测镜头安装在第二镜头座上，该第二镜头座通过第二镜头驱动机构设置在机台上的第二检测基座上。

进一步而言，上述技术方案中，所述移动机构的机械手包括：夹持部、纵向连接座、旋转连接座和横向连接座，所述的夹持部通过一竖直气缸与纵向连接座连接，所述的纵向连接座通过纵向气缸与旋转连接座连接，所述的旋转连接座通过旋转气缸与横向连接座连接，该横向连接座安装在与之配合的移送轨道上。