[发明专利]金属弱磁探测方法有效
| 申请号: | 201611234702.1 | 申请日: | 2016-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN106526683B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
| 发明(设计)人: | 于润桥;夏桂锁;胡博;程东方;程强强 | 申请(专利权)人: | 宁波市鄞州磁泰电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01V3/08 | 分类号: | G01V3/08 |
| 代理公司: | 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 | 代理人: | 沈锡倍 |
| 地址: | 315194 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁传感器 探测区域 金属 弱磁 磁场 探测 被探测目标 电磁辐射 被测目标 磁场变化 电磁特性 方向探测 金属物体 位置感应 异常变化 激励源 漏检 叠加 鉴别 安全 | ||
本发明公开了一种金属弱磁探测方法,采用磁传感器来感应被测目标通过探测区域时的磁场变化,利用金属通过探测区域时会引起探测区域磁场异常变化的原理,来鉴别被探测目标是否含有金属物体;而磁传感器两列设计,从不同位置感应磁场强度,能够避免单一方向探测时因物体电磁特性的叠加而导致的漏检;磁传感器无需激励源,不会产生电磁辐射比较安全。
技术领域
本发明涉及一种金属弱磁探测方法。
背景技术
目前国内外金属探测方法主要有:电磁感应型、X射线检测型和微波检测型。主要设备有安检X光机、金属安检门、便携式手持金属探测仪、台式金属探测器等仪器。
其中,电磁感应型是金属探测中应用最广泛的一类,基本原理是通过检测金属对交变电磁场的干扰来检测金属。但当存在两种或两种以上磁特性、电特性不同的金属,极有可能导致感应磁场相抵消,最终导致漏报。
X射线检测型(如X射线行李安检机),根据被检测物对X射线的吸收程度来判定物品中所含异物的形状、位置、种类,但是该设备长期运行会出现图像分辨率下降问题。
微波检测型通过检测微波的反射、透射、衍射、干涉等物理特性的改变,以及被检材料的电磁特性,实现检测目的,如太赫兹成像技术。但是目前最大的困难还是没有高功率便携式连续可调的成本较低的THz发射源和满足现实要求的滤光片,另外也没有能够常温下直接探测太赫兹射线的被动式探测器。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种金属弱磁探测方法,基于金属物体在地磁场作用下产生磁异常这一自然现象,在不主动发射探测波、不存在任何的电离或电磁辐射的情况下,实现对金属物体的探测。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种金属弱磁探测方法,具体包括如下步骤:
1)由多个磁传感器实时获取被探测区域的弱磁信息;其中,所述所述磁传感器以j、k两列设置,j列比k列离被探测区域入口近;
2)信号采集器将磁传感器发送的电信号转换为数字信号;
3)控制器根据步骤2)所述的数字信号计算出j、k两列磁传感器各探测点的磁异常梯度数据;
4)将j、k两列同行磁传感器的磁异常梯度数据差值的求和平均值S与阈值范围(-A,A)进行比较,若求和平均值超出阈值范围即S>A或S<-A,则判定为有金属物体进入被探测区域;如果求和平均值在阈值范围内即S∈(-A,A),则进入步骤5);其中,求和平均值n为磁传感器的行数,Sji为j列i行磁传感器相应的磁异常梯度数据,Ski为k列i行磁传感器相应的磁异常梯度数据;
5)若S∈(-A,A)是在检测过程S>A→S∈(-A,A)→S<-A中出现的,则判定为有金属物体进入被探测区域;否则判定为没有金属物体进入被探测区域。
与现有技术相比,本发明的优点在于采用磁传感器来感应被测目标通过探测区域时的磁场变化,利用金属通过探测区域时会引起探测区域磁场异常变化的原理,来鉴别被探测目标是否含有金属物体;而磁传感器两列设计,从不同位置感应磁场强度,能够避免单一方向探测时因物体电磁特性的叠加而导致的漏检;磁传感器无需激励源,不会产生电磁辐射比较安全。
作为改进,在探测出金属物体进入被探测区域时,根据磁梯度值将金属物体以二维彩色图像在控制器显示器界面显示,显示金属物体的大致形状以方便操作人员判断,不整体显示被探测目标,保护了乘客的隐私。
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