[发明专利]一种10B富集的ZrB2溅射靶材的制备方法及应用有效

专利信息
申请号: 201611227415.8 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN106588023B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 王星明;刘宇阳;杨磊;彭程;白雪;桂涛;储茂友 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院
主分类号: C04B35/58 分类号: C04B35/58;C04B35/645;C23C14/35
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 朱琨
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 10 富集 zrb2 溅射 制备 方法 应用
【说明书】:

发明提供了一种10B富集的ZrB2溅射靶材的制备方法及应用,属于溅射靶材制备及应用领域。该方法包括以下步骤:采用碳热还原反应制备10B富集的ZrB2粉体,将该ZrB2粉体装入高强石墨模具中,再惰性气氛保护下热压烧结,得到ZrB2靶材,该靶材用于直流磁控溅射制备10B富集的ZrB2薄膜。本发明提供的制备方法工艺过程简单,成本低,易于实现产业化生产,热压烧结过程无须添加烧结助剂,得到的ZrB2溅射靶材纯度高、相结构单一、致密度高、导电性好,适于直流磁控溅射制备ZrB2薄膜。

技术领域

本发明属于溅射靶材制备及应用领域,具体涉及一种10B富集的ZrB2溅射靶材的制备方法及应用。

背景技术

ZrB2材料由于具有高熔点、高硬度、良好的导电性、耐高温氧化等特点在高温结构陶瓷上有广泛的应用,其薄膜在航空航天、太阳能、核能等领域也有突出的应用,当ZrB2中的B以10B富集的形式存在时,具有优异的中子吸收性能,使得ZrB2薄膜在核反应堆中得到应用。

ZrB2的薄膜一般都利用直流磁控溅射来制备的,直流磁控溅射是将ZrB2靶材作为阴极、基体作为阳极,通过离子束轰击靶材表面,使得靶材表面以原子团、簇的形式沉积到基体的表面,形成ZrB2薄膜。

ZrB2靶材的制备主要包括原料制备和靶材烧结成型,原料制备的方法有多种,包括直接合成法、碳热还原法、金属热还原法、高温自蔓延合成法、电化学合成法、溶胶-凝胶法(Sol-Gel)、PVD、CVD等。在各种ZrB2粉体的制备方法中,碳热还原法和高温自蔓延合成法是最常用的两种方法,也是操作简单易行的两种方法。但高温自蔓延法采用单质Zr和B为原料,原料成本高,特别是10B富集的B粉原料难以获得,且制备的ZrB2粉体纯度低,在要求ZrB2高纯化的应用领域制约了应用。靶材烧结成型方法主要有无压烧结、热压烧结和热等静压烧结等,无压烧结需要添加烧结助剂,易在最终产品中引入杂质,降低了靶材的化学纯度;热等静压烧结由于设备昂贵,操作成本高;而热压烧结工艺灵活,操作简单而易于实现。

发明内容

本发明针对现有ZrB2靶材制备技术的不足,提供了一种10B富集的ZrB2靶材的制备方法及应用,其特征在于,该方法包括以下步骤:

(1)制备10B富集的ZrB2粉体;

(2)将10B富集的ZrB2粉体装入高强石墨模具中;

(3)在惰性气氛保护下高温热压烧结;

(4)热压烧结的ZrB2陶瓷坯体进行加工后处理,得到10B富集的ZrB2溅射靶材。

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