[发明专利]单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统及处理方法

说明书

公开了一种单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统及其处理方法，单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统包括用于录入环境参数的环境参数录入模块(1)、用于预处理环境参数的环境参数预处理模块(2)、用于录入污秽参数的污秽参数录入模块(3)、用于预处理污秽参数的污秽参数预处理模块(4)、积污数据匹配模块(5)、积污数据处理模块(6)和积污数据输出模块(7)。

技术领域

本发明涉及一种输电技术领域，特别是一种单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统及其处理方法。

背景技术

输变电外绝缘问题自电力系统诞生以来就始终是威胁着电力系统安全的严重问题之一。随着人类社会的不断发展，生产生活对电力系统的依赖也越来越强，与此同时，电力系统电压等级不断提高，事故影响越发严重，污闪问题的危害也越来越大。

为了降低污闪的几率、减少污闪的影响，研究人员做了很多工作，目前针对绝缘子污秽闪络的产生和发展已经有了较为成熟的理论。采用人工涂污的方式，研究人员针对绝缘子的污闪特性也有较为深入的研究。

关于各种因素对绝缘子积污过程的影响目前并无太多深入的研究。现有的研究方式也是通过自然积污试验或人工积污试验进行大量试验后，对试验数据进行整理和分析而得到结论。但是由于影响因素众多，因而需要做多次试验，每次试验要测量大量数据。这些数据的整理和归档工作极其繁琐。另外，在分析单因素对绝缘子积污特性的影响时，也很难提取出合适的数据进行分析。

特别的，绝缘子自然积污试验中，绝缘子的积污环境参数的测量周期往往是以分钟或小时为单位，但是绝缘子的污秽参数测量往往是以月或年为单位的，这就要求数据分析前需要对环境参数进行一定的预处理，多个地点、多组试验时，环境参数的数据量较大，数据预处理工作量很大。

综上所述，绝缘子的积污试验的原始数据量庞大，后续数据处理与分析需要专业人员长时间的工作，效率低下，极大地影响了相关因素对绝缘子积污特性的影响的研究工作。

专利文献CN105716541 A公开的一种绝缘子防污参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)建立测量系统，测量系统由立体影像传感器、激光发射器、运动控制云台和计算机控制台组成，立体影像传感器和激光发射器安装在运动控制云台上；上述各组成通过电缆连接；(2)获取影像，通过立体影像传感器从远近不同摄站对室内或室外输变电设备外绝缘子获取不同方向的多幅影像；(3)模型重建，利用物体在立体影像传感器上的成像轮廓，结合物体的制造工艺，采用类似断面扫描的积分方法，在多幅影像上精确提取的轮廓位置作为约束，最小二乘迭代解算物体上一系列横断面的三维尺寸，实现输变电设备外绝缘子数字三维重建；(4)结构参数测量，根据重建的三维模型，精确量测与防污闪相关的结构参数；(5)防污参数计算，根据步骤(4)中量测得到的绝缘子的结构参数，计算出绝缘子的防污参数；(6)建立数据库，保存测量和计算数据并建立索引。该专利建立了外绝缘子结构参数和特定防污参数相结合的输变电设备外绝缘子数据库，但该专利无法实现环境参数和污秽参数的匹配以及处理形成积污数据以备查询、统计分析。

专利文献CN105911439 A公开的一种外绝缘综合诊断分析系统，该诊断分析系统由外绝缘数据库和专家诊断系统组成，所述的外绝缘数据库包括外绝缘污区分布图、外绝缘结构参数和外绝缘防污参数；所述的专家诊断系统包括管理系统、防污闪知识库、推理机构和反措系统；所述的管理系统用来对外绝缘数据库的外绝缘污区分布图、外绝缘结构参数和外绝缘防污参数进行调用，同时用来对防污闪知识库进行管理；所述的防污闪知识库是基于电力防污闪领域的人类专家知识与经验的知识库；所述的推理机构是指根据所述的防污闪知识库确定的防污闪规则，与外绝缘数据库的外绝缘防污参数进行比对并进行诊断，判定外绝缘数据库中外绝缘的防污状态；所述的反措系统是根据推理机构的诊断结果确定相应的处理措施。该专利提供了一种外绝缘综合诊断分析系统，但该专利无法实现环境参数和污秽参数的匹配以及处理形成积污数据以备查询、统计分析。