[发明专利]单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统及处理方法

权利要求书

1.一种单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其包括用于录入环境参数的环境参数录入模块(1)、用于预处理环境参数的环境参数预处理模块(2)、用于录入污秽参数的污秽参数录入模块(3)、用于预处理污秽参数的污秽参数预处理模块(4)、积污数据匹配模块(5)、积污数据处理模块(6)和积污数据输出模块(7)，其特征在于：连接所述环境参数录入模块(1)的环境参数预处理模块(2)生成基于时间的环境参数数据，连接所述污秽参数录入模块(3)的污秽参数预处理模块(4)生成基于积污时间的污秽参数数据，连接所述环境参数预处理模块(2)和污秽参数预处理模块(4)的所述积污数据匹配模块(5)基于时间匹配环境参数数据和污秽参数数据，连接所述积污数据匹配模块(5)的积污数据处理模块(6)接收匹配后的环境参数数据和污秽参数数据并生成积污数据，连接所述积污数据处理模块(6)的积污数据输出模块(7)输出所述积污数据，单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统设有基于积污时间、积污地点、环境参数和污秽参数的查询积污数据的查询模块(11)，环境参数条件设定污秽物颗粒粒径及对应浓度的加权平均数和标准差系数、风速的加权平均数和标准差系数、温度的加权平均数和标准差系数、湿度的加权平均数和标准差系数，污秽参数条件设定绝缘子型号、绝缘子连接方式、电压种类、电压等级、污秽颗粒物粒径、污秽成分、污秽等值盐密、污秽等值灰密，所有设定条件都要给出上下界，在用户选择查询条件后，对库内数据进行查询并给出查询结果。

2.根据权利要求1所述的单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其特征在于，所述环境参数包括测量时间、测量地点、污秽颗粒粒径及对应浓度、风速、温度和/或湿度，所述污秽参数包括积污时间、积污地点、绝缘子型号、绝缘子连接方式、电压种类、电压等级、污秽颗粒物粒径、污秽成分、污秽等值盐密和/或污秽等值灰密，所述环境参数数据包括基于时间的污秽颗粒粒径及对应浓度、风速、温度和/或湿度的数据或变化图像；所述污秽参数数据包括基于积污时间的绝缘子型号、绝缘子连接方式、电压种类、电压等级、污秽颗粒物粒径、污秽成分、污秽等值盐密和/或污秽等值灰密的数据，所述积污数据包括基于时间的污秽物颗粒粒径及对应浓度的加权平均数和标准差系数、风速的加权平均数和标准差系数、温度的加权平均数和标准差系数、湿度的加权平均数、标准差系数、绝缘子型号、绝缘子连接方式、电压种类、电压等级、污秽颗粒物粒径、污秽成分、污秽等值盐密和/或污秽等值灰密的数据。

3.根据权利要求1所述的单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其特征在于：所述环境参数录入模块(1)和/或污秽参数录入模块(2)接收xlsx格式信息，所述环境参数预处理模(1)包括高斯滤波器(8)，所述积污数据匹配模块(5)包括数据查找单元(9)，所述积污数据处理模块(6)包括计算单元(10)。

4.根据权利要求1所述的单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其特征在于：所述环境参数预处理模块(2)、污秽参数预处理模块(4)、积污数据匹配模块(5)和/或积污数据处理模块(6)是通用处理器、数字信号处理器、专用集成电路ASIC，现场可编程门阵列FPGA、模拟电路或数字电路。

5.根据权利要求1所述的单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其特征在于：所述环境参数预处理模块(2)、污秽参数预处理模块(4)、积污数据匹配模块(5)和/或积污数据处理模块(6)包括存储器，所述存储器包括一个或多个只读存储器ROM、随机存取存储器RAM、快闪存储器或电子可擦除可编程只读存储器EEPROM。

6.根据权利要求1所述的单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其特征在于：单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统设有用于修正、删除、复制、添加数据的维护模块(12)。

7.根据权利要求1所述的单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统，其特征在于：单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统设有经由指纹认证和密码认证的保密模块(13)，所述保密模块(13)分级设置所述单片绝缘子自然积污特性试验数据处理系统的访问权限。