[发明专利]状态模拟电路和USB‑C接口测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种状态模拟电路和USB-C接口测试方法。

背景技术

随着通用串行总线(Universal Serial Bus，简称USB)技术的广泛运用，USB的更新换代也越来越频繁，USB Type-C(简称USB-C)作为新的USB产品类型，如何快速检测USB-C产品的USB-C接口的配置通道(Configuration Channel，简称CC)处于UFP(Upstream Facing Port，上行端口)模式下的功能成为本领域的一个技术瓶颈。

针对如何快速检测USB-C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种状态模拟电路和USB-C接口测试方法，以至少解决如何快速检测USB-C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种状态模拟电路，状态模拟电路用于使待测产品的USB-C接口处于UFP模式的预设状态下，状态模拟电路包括：对外接口，用于连接待测产品的USB-C接口，对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，CC1测试接口和CC2测试接口用于连接测试设备，CC1测试接口与USB-C接口的第一配置通道CC1相连接，CC2测试接口与USB-C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个上拉电路的第一端与CC1测试接口或CC2测试接口相连接，每个上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，至少一个上拉电路用于使USB-C接口的配置通道处于UFP模式的预设状态以使测试设备测试USB-C接口处于UFP模式的预设状态下的电参数。

进一步地，每个上拉电路的第一端和第二端之间串联有开关和上拉电阻，状态模拟电路中的每个开关用于控制对应的上拉电路的第一端和第二端之间电路的通断以使USB-C接口处于对应的预设状态。

进一步地，至少一个上拉电路分为第一组上拉电路和第二组上拉电路，其中：第一组上拉电路中的每个上拉电路的第一端连接至CC1测试接口，且第一组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同；第二组上拉电路中的每个上拉电路的第二端连接至CC2测试接口，且第二组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同。

进一步地，状态模拟电路还包括：外部电源接口，用于连接第一外部电源，外部电源接口与每个上拉电路的第二端相连接；接地接口，用于连接第二外部电源或测试设备的地，接地接口为状态模拟电路的接地端。

进一步地，USB-C接口还包括VBUS通道，对外接口还引出VBUS测试接口以与VBUS通道相连接。

进一步地，对外接口包括一个公头对外接口和一个母头对外接口，公头对外接口和母头对外接口之间连接有CC1信号线和CC2信号线，其中，CC1信号线与USB-C接口的第一配置通道CC1相连接且CC1测试接口从CC1信号线上引出，CC2信号线与USB-C接口的第二配置通道CC2相连接且CC2测试接口从CC2信号线上引出。

进一步地，公头对外接口和母头对外接口之间还连接有VBUS信号线，其中，VBUS信号线与USB-C接口的VBUS通道相连接，状态模拟电路还包括VBUS测试接口，VBUS测试接口从VBUS信号线上引出。

进一步地，状态模拟电路设置在电路板上。

进一步地，状态模拟电路中的每个接口均在电路板上设置一个公头接口和一个母头接口。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种USB-C接口测试方法，该方法包括：在状态模拟电路中的对外接口接入USB-C接口的情况下，通过对外接口接收待测产品发送的上行信号；通过配置本发明的状态模拟电路使USB-C接口的第一配置通道和第二配置通道处于UFP模式的预设状态；分别采集第一配置通道的电参数和第二配置通道的电参数；判断第一配置通道的电参数和第二配置通道的电参数是否符合预设条件以检测USB-C接口的配置通道功能。

在本发明实施例中，通过状态模拟电路使待测产品的USB-C接口的配置通道处于UFP模式的预设状态下，以使与状态模拟电路的测试接口相连接的测试设备测试USB-C接口处于UFP模式的预设状态下的电参数，解决了如何快速检测USB-C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题，进而实现了快速对USB-C产品的接口的配置通道功能的技术效果。

附图说明