[发明专利]状态模拟电路和USB‑C接口测试方法在审

专利信息
申请号: 201611146967.6 申请日: 2016-12-13
公开(公告)号: CN106841843A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 李金秀 申请(专利权)人: 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 韩建伟,李志刚
地址: 100086 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 状态 模拟 电路 usb 接口 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种状态模拟电路,其特征在于,所述状态模拟电路包括:

对外接口,用于连接所述待测产品的USB-C接口,所述对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口,所述CC1测试接口和所述CC2测试接口用于连接测试设备,所述CC1测试接口与所述USB-C接口的第一配置通道CC1相连接,所述CC2测试接口与所述USB-C接口的第二配置通道CC2相连接;

至少一个上拉电路,每个所述上拉电路的第一端与所述CC1测试接口或所述CC2测试接口相连接,每个所述上拉电路的第二端与第一外部电源相连接,所述至少一个上拉电路用于使所述USB-C接口的配置通道处于预设状态以使所述测试设备测试处于所述UFP模式的所述USB-C接口在所述预设状态下的电参数。

2.根据权利要求1所述的状态模拟电路,其特征在于,每个所述上拉电路的第一端和第二端之间串联有开关和上拉电阻,所述状态模拟电路中的每个所述开关用于控制对应的上拉电路的第一端和第二端之间电路的通断以使所述USB-C接口处于对应的预设状态。

3.根据权利要求2所述的状态模拟电路,其特征在于,所述至少一个上拉电路分为第一组上拉电路和第二组上拉电路,其中:

所述第一组上拉电路中的每个上拉电路的第一端连接至所述CC1测试接口,且所述第一组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同;

所述第二组上拉电路中的每个上拉电路的第二端连接至所述CC2测试接口,且所述第二组上拉电路中每个上拉电路的上拉电阻的等效阻值均不相同。

4.根据权利要求1所述的状态模拟电路,其特征在于,所述状态模拟电路还包括:

外部电源接口,用于连接所述第一外部电源,所述外部电源接口与每个所述上拉电路的第二端相连接;

接地接口,用于连接第二外部电源或所述测试设备的地,所述接地接口为所述状态模拟电路的接地端。

5.根据权利要求1所述的状态模拟电路,其特征在于,所述USB-C接口还包括VBUS通道,所述对外接口还引出VBUS测试接口以与所述VBUS通道相连接。

6.根据权利要求1所述的状态模拟电路,其特征在于,所述对外接口包括一个公头对外接口和一个母头对外接口,所述公头对外接口和所述母头对外接口之间连接有CC1信号线和CC2信号线,其中,所述CC1信号线与所述USB-C接口的第一配置通道CC1相连接且所述CC1测试接口从所述CC1信号线上引出,所述CC2信号线与所述USB-C接口的第二配置通道CC2相连接且所述CC2测试接口从所述CC2信号线上引出。

7.根据权利要求6所述的状态模拟电路,其特征在于,所述公头对外接口和所述母头对外接口之间还连接有VBUS信号线,其中,所述VBUS信号线与所述USB-C接口的VBUS通道相连接,所述状态模拟电路还包括VBUS测试接口,所述VBUS测试接口从所述VBUS信号线上引出。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的状态模拟电路,其特征在于,所述状态模拟电路设置在电路板上。

9.根据权利要求8所述的状态模拟电路,其特征在于,所述状态模拟电路中的每个接口均在所述电路板上设置一个公头接口和一个母头接口。

10.一种USB-C接口测试方法,其特征在于,所述方法包括:

在所述状态模拟电路中的对外接口接入所述USB-C接口的情况下,通过所述对外接口接收所述待测产品发送的上行信号;

通过配置权利要求1至9中任一项所述的状态模拟电路使所述USB-C接口的第一配置通道和第二配置通道处于UFP模式的预设状态;

分别采集所述第一配置通道的电参数和所述第二配置通道的电参数;

判断所述第一配置通道的电参数和所述第二配置通道的电参数是否符合预设条件以检测所述USB-C接口的配置通道功能。

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