[发明专利]彩色滤光片及其膜层厚度测量方法

说明书

一种彩色滤光片及其膜层厚度测量方法，彩色滤光片具有显示区和环绕显示区域的非显示区，还包括：基板；透明有机薄膜层，该透明有机薄膜层整面覆盖于该基板的第一表面上；以及膜厚检测结构，其设置于该非显示区，该膜厚检测结构上设置有至少一个测量孔，该基板的部分该第一表面自该至少一个测量孔中暴露出，以暴露出的部分该第一表面作为基准，测量该透明有机层的第二表面到该第一表面的厚度。将膜厚测量结构设置于基板的指定位置，并通过激光装置形成至少一个测量孔，实现了自动化测量的目的，提高测量结果的准确度及测量效率。

技术领域

本发明涉及彩色滤光片的制造方法，特别关于一种彩色滤光片的膜层厚度测量方法。

背景技术

随着液晶显示器产品的日益普及，液晶显示器件已成为信息与电子工业中占有重要地位的基础元器件，液晶显示器已发展成为一个庞大的产业，彩色滤光片是液晶显示器结构中重要的一部分，以实现彩色显示。

在液晶显示器等平板显示器中使用的彩色滤光片，通常是通过在透明的基板上印刷、涂布或者光刻法形成条纹图案，条纹图案与液晶显示器每个像素一一对应，其中，条纹图案包括：红(R)、绿(G)及蓝(B)油墨。

图1为现有的彩色滤光片的俯视图；图2为图1中区域A沿虚线a剖面示意图。如图1所示，彩色滤光片10包括透明基板11、彩色滤光层13及黑色矩阵14，其中，黑色矩阵14以划分各像素；彩色滤光层13包括依次排列而形成条状图案的红色滤光区13R、绿色滤光区13G以及蓝色滤光13B。

红色滤光区13R、绿色滤光区13G以及蓝色滤光13B形成条纹图案后，都由于油墨自身的表面张力，使得其形成为条纹时，容易造成两端侧高，而在中央部低的形状，因此，作为上述条纹图案集合体的油墨层的表面出现的凹凸不平的表面。而凹凸不平的表面存在如下问题：1)引起光的漫反射，显示的对比度降低；2)在液晶显示器驱动时发生液晶的响应不均，显示异常。

作为降低凹凸不平的表面部分的高度的尝试，在彩色滤光片的整个表面上形成透明有机薄膜层12。为了准确的获得彩色滤光片10的表面是否平坦，需要测量彩色滤光片10上的膜层厚度。

现有膜层厚度测量方式，以表面轮廓仪(profiler)测定膜的厚度为例说明彩色滤光基板10上的膜层厚度测量过程。如图1与图2中所示，首先，于彩色滤光基板10上选择区域A，并移除区域A中的部分透明有机薄膜层12形成测量孔15，其中，基板11可自测量孔15中露出；其次，将表面轮廓仪(profiler)的探针接触测量孔15中基板11的表面；接着，使得表面轮廓仪(profiler)的探针移动至透明有机薄膜层12的表面，并沿着基板11的长边方向，向基板11的边缘划一直线，以自测量孔15中露出基板11的表面为基准，测量出透明有机薄膜层12的厚度T1、透明有机薄膜层12与红色滤光区13R的厚度和TR、透明有机薄膜层12与黑色矩阵14的厚度TB。其中，形成测量孔15的方式通过操作者直接刮除基板11上部分透明有机薄膜层12，然而，在操作者刮除部分透明有机薄膜层12的过程中，常常会造成，透明有机薄膜层12下方的彩色滤光层13、黑色矩阵14及基板11的刮伤，进而造成彩色滤光片10报废或者需要补色。此外，由于操作者的个体差异，无法控制测量孔的形成位置(无固定位置)及力道，造成量测结果的不稳定。因此，测量彩色滤光片上的膜层厚度的方法需要改进。

发明内容

本发明提供一种新的彩色滤光片及其膜层厚度测量方法，以克服现有技术中无法自动化测量彩色滤光片上的膜层厚度的问题。本发明的彩色滤光片，具有显示区和环绕显示区域的非显示区，该彩色滤光片还包括：基板；透明有机薄膜层，该透明有机薄膜层整面覆盖于该基板的第一表面上；以及膜厚检测结构，其设置于该非显示区，该膜厚检测结构上设置有至少一个测量孔，该基板的部分该第一表面自该至少一个测量孔中暴露出，以暴露出的部分该第一表面作为基准，测量该透明有机层的第二表面到该第一表面的厚度。