[发明专利]彩色滤光片及其膜层厚度测量方法

权利要求书

1.一种彩色滤光片，具有显示区和环绕显示区域的非显示区，其特征在于，该彩色滤光片还包括：

基板；

透明有机薄膜层，该透明有机薄膜层整面覆盖于该基板的第一表面上；以及

膜厚检测结构，其设置于该非显示区，该膜厚检测结构上设置有至少一个测量孔，该基板的部分该第一表面自该至少一个测量孔中暴露出，以暴露出的部分该第一表面作为基准，测量该透明有机层的第二表面到该第一表面的厚度；

其中，该膜厚检测结构包括辅助彩色滤光层，该辅助彩色滤光层包括第一色阻单元与第二色阻单元，该第一色阻单元包括第一红色色阻、第一绿色色阻及第一蓝色色阻，该第二色阻单元包括未设置色阻的空白区域；该膜厚检测结构于形成该至少一个测量孔之后，该辅助彩色滤光层至少包括红色、绿色以及蓝色色阻构成的色阻单元。

2.如权利要求1所述的彩色滤光片，其特征在于，该空白区域填充该透明有机薄膜层。

3.如权利要求2所述的彩色滤光片，其特征在于，该至少一个测量孔设置于该空白区域。

4.如权利要求1所述的彩色滤光片，其特征在于，该膜厚检测结构还包括黑色矩阵，该黑色矩阵位于该辅助彩色滤光层与该基板之间，该至少一个测量孔为利用激光照射该彩色滤光片移除部分该透明有机薄膜层、部分该辅助彩色滤光层、部分该黑色矩阵或其组合而形成。

5.如权利要求1所述的彩色滤光片，其特征在，该第二表面为该透明有机薄膜层远离该第一表面的表面。

6.如权利要求1所述的彩色滤光片，其特征在于，该透明有机薄膜层为平坦层，以使该彩色滤光片具有平坦的表面。

7.一种彩色滤光片上的膜层厚度的测量方法，其特征在于，该测量方法包括以下步骤：

提供彩色滤光片，该彩色滤光片的基板的第一表面整面覆盖透明有机薄膜层，膜厚测量结构形成该彩色滤光片的非显示区且位于该透明有机薄膜层与该基板之间，该膜厚测量结构具有空白区域，该膜厚检测结构包括辅助彩色滤光层，该辅助彩色滤光层包括第一色阻单元与第二色阻单元，该第一色阻单元包括第一红色色阻、第一绿色色阻及第一蓝色色阻，该第二色阻单元包括未设置色阻的空白区域；

于该空白区域上形成至少一个测量孔，使得部分该基板的第一表面自该至少一个测量孔中暴露出，该膜厚检测结构于形成该至少一个测量孔之后，该辅助彩色滤光层至少包括红色、绿色以及蓝色色阻构成的色阻单元；

控制轮廓测量仪的接触式探针接触该第一表面；以及

控制接触式探针移动至该透明有机薄膜层的第二表面并维持与该第二表面接触，沿着该基板的长边方向划直线，以测量获得该透明有机薄膜层的该第二表面至该基板的第一表面的厚度。

8.如权利要求7所述的测量方法，其特征在于，该膜厚测量结构还包括设置于该基板与该透明有机薄膜层之间的辅助彩色滤光层以及黑色矩阵，该至少一个测量孔通过激光装置照射该彩色滤光片，移除部分该透明有机薄膜层、部分该辅助彩色滤光层、部分该黑色矩阵或其组合形成。