[发明专利]一种膜厚测量系统有效
申请号: | 201611099558.5 | 申请日: | 2016-12-02 |
公开(公告)号: | CN108151661B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 刘玉;陈喆;李承东;操金明;潘占福;刘冬;程小辉;赵晨思 | 申请(专利权)人: | 上海ABB工程有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏金霞;王艳江 |
地址: | 201319 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 系统 | ||
一种膜厚测量系统,包括:测量头,适于测量待测工件上测量点的膜厚,以得到与所述膜厚关联的测量信号;机械臂,所述测量头固定于所述机械臂上;机器人控制部件,与所述测量头和机械臂耦接,适于对所述测量信号进行数据采集,并根据数据采集结果控制所述机械臂的运动;上位机,与所述机器人控制部件耦接。本发明方案膜厚测量系统膜厚测量时间短,系统响应速度快,系统成本低,且利于维护。
技术领域
本发明涉及膜厚测量领域,特别涉及一种膜厚测量系统。
背景技术
目前,越来越多的行业需要应用膜厚测量系统,例如汽车行业。膜厚测量系统可以快速地测量出工件上涂覆的膜层的厚度,例如,所述工件可以是表面喷漆的汽车的涂层,以确定所述涂层是否符合标准,从而根据测量结果做出后续的判定。若按照测量原理进行分类,所述膜厚测量系统可以分为激光膜厚测量系统、X射线膜厚测量系统以及超声波膜厚测量系统等等。
如图1所示,图1示出了现有技术中的一种主流的膜厚测量系统100。所述膜厚测量系统100可以包括:激光测量头10,数采单元20,上位机30,可编程逻辑控制器(Programmable Logic Controller,简称PLC)控制部件40(以下称为PLC控制部件40),机器人控制部件50和与所述机器人控制部件50耦接的机械臂60。所述膜厚测量系统100采用激光测量方式,其中,激光测量头10内的工作介质为二氧化碳(CO2)。在进行膜厚测量时,所述激光测量头10固定于所述机械臂60上,并在电子控制单元(Electric Control Unit,ECU)101的控制下产生间断的激光脉冲,所述激光脉冲反射至被测工件102的测量点,以得到与所述膜厚关联的测量信号;所述数采单元20对所述测量信号进行数据采集,并将采集结果传输至所述上位机30,所述上位机30根据所述采集结果得到所述被测工件102上测量点的膜厚并将其显示出来;所述上位机30还根据所述采集结果判断测量得到的膜厚是否在预设的阈值范围内,以判定其是否合格。所述膜厚测量系统100的控制主站为独立设置的所述PLC控制部件40。所述PLC控制部件40根据所述上位机30的判定结果(测量得到的膜厚合格或者不合格),经由所述机器人控制部件50,控制所述机械臂60的运动。
因此,由于现有技术中的膜厚测量系统采用独立设置的PLC控制部件作为控制主站,在根据上位机的判定结果控制所述机械臂的运动时,数据传输通路复杂,数据传输时间长,可能导致膜厚测量系统的测量时间较长,在遇到膜厚测量异常时系统响应较慢,无法满足对待测工件的膜厚进行测量的高产能需求。
发明内容
本发明解决的技术问题是如何缩短膜厚测量系统的膜厚测量时间,提高系统响应速度,以提高产能。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种膜厚测量系统,包括:测量头,适于测量待测工件上测量点的膜厚,以得到与所述膜厚关联的测量信号;机械臂,所述测量头固定于所述机械臂上;机器人控制部件,与所述测量头和机械臂耦接,适于对所述测量信号进行数据采集,并根据数据采集结果控制所述机械臂的运动;上位机,与所述机器人控制部件耦接。
可选地,所述机器人控制部件包括:数采单元,适于对所述测量信号进行数据采集,以得到所述数据采集结果;主站控制器,与所述数采单元耦接,适于根据所述数采单元的数据采集结果控制所述机械臂的运动。
可选地,所述上位机与所述主站控制器和数采单元电连接,适于根据所述数据采集结果得到所述膜厚,并显示所述膜厚和/或膜厚测量结果,所述膜厚测量结果用于表示所述膜厚与预设的膜厚标准值的比对结果。
可选地,当所述膜厚与膜厚标准值的差值超出预设的阈值范围时,所述膜厚测量结果指示测量失败,所述上位机进行报警。
可选地,当所述膜厚测量结果指示测量失败时,所述上位机发送测量失败指令至所述主站控制器,使得所述主站控制器控制所述机械臂停止运动。
可选地,对于所述待测工件上的不同测量点对应的膜厚标准值彼此独立配置。
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