[发明专利]一种基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法

说明书

本发明提供一种基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法，测试过程包括在未连接高频电路板的情况下对矢量网络分析仪进行校准；连接高频电路板的端口1到矢量网络分析仪的校准平面，高频电路板的端口2处于开路状态，利用矢量网络分析仪测得高频电路板的反射S参数，进行频域到时域的变换；去除高频电路板本身的反射，只保留高频电路板端口2的开路反射段响应，进行时域到频域的转换，得到新的反射S参数，获取高频电路板的传输参数。本发明所需设备简单，成本更低，通用性强；测试过程简单，后期处理简便，不仅可以快速计算测试出高频传输S参数，且能同时分析高频电路板的阻抗特性。

技术领域

本发明涉及到一种光通信用高频电路板的传输特性测试的方法，特别是涉及一种利用网络分析仪基于反射特性计算传输特性的方法，本发明属于光通信测试技术领域。

背景技术

当今通信领域，光通信已成为广泛使用的一类通信科学。随着通信速率的增加，对光通信用高频电路板的性能要求也越来越高。在高速传输运作下，信号载送的质量相当重要，为了获得最大的传输效率，各项高频参数将成为设计、除错改良、实际应用上的重要参考依据，因此加强对高频电路板的特性测试显得尤为重要。常见的高频电路板的特性测试包括阻抗测试和传输S参数测试，一般来说，在高频测试中所使用的仪器大致上有“时域反射计”以及“网络分析仪”。S参数，也就是散射参数，是微波传输中的一个重要参数。通常，标记S12为反向传输系数，S21为正向传输系数，S11为输入反射系数，S22为输出反射系数。

对于两个端口可用同轴射频线或高频探针进行连接的高频电路板，可用时域反射计直接测量阻抗特性，用网络分析仪直接进行传输S参数的测量。但是针对有一个端口无法用同轴射频线或高频探针进行连接的特殊高频电路板，可用时域反射计直接测量阻抗特性，但是却无法用网络分析仪直接测量其传输S参数。为估算此类特殊高频电路板的传输S参数，可制作专门的电路板，一端口与特殊高频电路板的非同轴接口匹配，另一端用同轴接口引出，保证两端口之间的高频传输线传输损耗较小，然后测量两个电路板级联的传输S参数，但是这种方法对电路板的制作要求较高，且通用性不强。

发明内容

本发明的目的在于提供了一种基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法，可以解决特殊高频电路板无法测量传输特性的问题，所述特殊高频电路板有一个测试端口无法用射频线或探针进行连接。该方法测试过程简单，测试设备装置简单，可以快速测试出高频传输S参数。

本发明技术方案提供一种基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法，所述高频电路板有一端为非同轴接口，不能与矢量网络分析仪直接连接，设高频电路板有端口1和端口2，端口1能够与矢量网络分析仪直接连接，端口2不能够与矢量网络分析仪直接连接，通过以下步骤实现测试，

步骤1，在未连接高频电路板的情况下对矢量网络分析仪进行校准；

步骤2，连接高频电路板的端口1到矢量网络分析仪的校准平面，高频电路板的端口2处于开路状态，利用矢量网络分析仪测得高频电路板的反射S参数，记为输入端反射系数Γ_IN1；

步骤3，对反射S参数Γ_IN1进行频域到时域的变换，得到时域低通冲击信号；

步骤4，去除高频电路板本身的反射，只保留高频电路板端口2的开路反射段响应，得到相应时域低通冲击信号；

步骤5，对步骤4所得结果进行时域到频域的转换，得到新的反射S参数，记为输入端反射系数Γ_IN2；

步骤6，利用步骤5转换得到的输入端反射系数Γ_IN2，得出高频电路板的传输参数。

而且，步骤4中，保留高频电路板的开路反射段响应，实现方式如下，

1)从终止频率往起始频率的方向进行最大值的查找，当新的最大值比之前的最大值大于预设数值T时，将这个新的最大值的频率点作为选通的中心频率点，