[发明专利]一种基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法有效
| 申请号: | 201611085560.7 | 申请日: | 2016-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN106788693B | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
| 发明(设计)人: | 李凤;成璇璇;翟宇佳;胡毅;马卫东 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071;H04B10/079 |
| 代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 严彦 |
| 地址: | 430205 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 反射 特性 光通信 高频 电路板 传输 测试 方法 | ||
1.一种基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法,所述高频电路板有一端为非同轴接口,不能与矢量网络分析仪直接连接,其特征在于:设高频电路板有端口1和端口2,端口1能够与矢量网络分析仪直接连接,端口2不能够与矢量网络分析仪直接连接,通过以下步骤实现测试,
步骤1,在未连接高频电路板的情况下对矢量网络分析仪进行校准;
步骤2,连接高频电路板的端口1到矢量网络分析仪的校准平面,高频电路板的端口2处于开路状态,利用矢量网络分析仪测得高频电路板的反射S参数,记为输入端反射系数ΓIN1;
步骤3,对反射S参数ΓIN1进行频域到时域的变换,得到时域低通冲击信号;
步骤4,去除高频电路板本身的反射,只保留高频电路板端口2的开路反射段响应,得到相应时域低通冲击信号;
步骤5,对步骤4所得结果进行时域到频域的转换,得到新的反射S参数,记为输入端反射系数ΓIN2;
步骤6,利用步骤5转换得到的输入端反射系数ΓIN2,得出高频电路板的传输参数。
2.根据权利要求1所述基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法,其特征在于:步骤4中,保留高频电路板的开路反射段响应,实现方式如下,
1)对步骤3所得时域低通冲击信号从终止频率往起始频率的方向进行最大值的查找,当新的最大值比之前的最大值大于预设数值T时,将这个新的最大值的频率点作为选通的中心频率点,
2)以中心频率点的幅度为参考,左右下降T值时对应的频率点作为选通的起始频率和终止频率。
3.根据权利要求1所述基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法,其特征在于:步骤6中,高频电路板的传输参数等于
4.根据权利要求1或2或3所述基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法,其特征在于:所述矢量网络分析仪采用N4373C矢量网络分析仪。
5.根据权利要求4所述基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法,其特征在于:步骤3中,对反射S参数ΓIN1进行频域到时域的变换,利用矢量网络分析仪的时域带通或低通模式实现。
6.根据权利要求4所述基于反射特性的光通信高频电路板传输特性测试方法,其特征在于:步骤4中,去除高频电路板本身的反射,利用矢量网络分析仪的选通功能实现。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉光迅科技股份有限公司,未经武汉光迅科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611085560.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





