[发明专利]一种用于测量高分子材料热力学性能的方法

权利要求书

1.一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述方法以低内耗金属管为载体，将待测高分子材料装入金属管的空腔中制备试样，再通过扭转、拉伸或弯曲模式测定试样的内耗和模量，最后通过分析内耗-温度曲线和模量-温度曲线来获得材料的T_g、T_m及其它热力学参数。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述低内耗金属管为内耗值在10^-3量级及以下的金属管。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述待测高分子材料为粉末状或颗粒状，当为粉末状时，将待测高分子材料直接装入金属管的空腔中，并将两端封死；当为颗粒状时，将待测高分子材料熔化后装入金属管的空腔中，并将两端封死。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述低内耗金属管的外径范围为1-5mm、壁厚范围为0.1-0.5mm、长度范围为3-10cm。

5.根据权利要求1所述的一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述试样的内耗和模量的测定方法为：采用强迫振动测量模式对样品进行扭转、拉伸和弯曲变形，通过应力和应变传感器实时采集材料的加力和振动曲线，通过计算应力应变的振幅比值以及两者滞后角获得模量和内耗值。

6.根据权利要求1所述的一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述试样的内耗和模量的测定方法为：采用自由衰减模式对样品进行扭转或弯曲变形，通过采集材料的应变衰减曲线，计算振幅的对数衰减率和频率获得模量和内耗值。

7.根据权利要求1所述的一种用于测量高分子材料热力学性能的方法，其特征在于，所述T_g、T_m及其它热力学参数的获得方法为：通过改变测量温度和频率获得高分子材料的内耗和模量随温度和频率的变化曲线，即内耗-温度曲线和模量-温度曲线，根据内耗-温度曲线和模量-温度曲线中内耗峰的位置和模量变化最快的位置获得材料的T_g、T_m值及其他热力学参数值。