[发明专利]验证存储器件的修复结果的存储器件、存储器系统以及方法有效

专利信息
申请号: 201610987132.7 申请日: 2016-11-09
公开(公告)号: CN107039088B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 金锡中;张永旭 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44;G11C29/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邵亚丽;张婧
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 验证 存储 器件 修复 结果 存储器 系统 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种存储器件,包括:

存储单元阵列,包括具有多个存储单元的正常区域和具有多个冗余存储单元的冗余区域,所述正常区域包括第一失效块,所述冗余区域包括替换第一失效块的第一冗余块;以及

控制电路,包括存储关于第一失效块和第一冗余块的替换信息的映射表,所述控制电路被配置为当地址信号与所述第一失效块相对应时,参考映射表并且访问所述第一冗余块,

在存储器件的测试模式下,其中,所述正常区域进一步包括第二失效块,所述控制电路被配置为:

将第一逻辑值写入所述正常区域的除了第一失效块和第二失效块的存储单元之外的所有存储单元和所述第一冗余块的冗余存储单元中;

将不同于第一逻辑值的第二逻辑值写入除了所述第一冗余块的冗余存储单元之外的冗余区域的所有冗余存储单元中;

将关于所述第二失效块与所述冗余区域中的第二冗余块之间的替换信息存储在所述映射表,所述第二冗余块替换所述第二失效块;以及

基于从第二冗余块的所有冗余存储单元所读取的数据来验证采用所述第二冗余块替换所述第二失效块的结果。

2.根据权利要求1所述的存储器件,其中,当从所述第二冗余块的所有冗余存储单元所读取的数据具有第二逻辑值并且从正常区域和第一冗余块所读取的所有数据具有第一逻辑值时,所述存储器件被配置为使得控制电路确定错误未被包括在采用所述第二冗余块替换所述第二失效块的结果中。

3.根据权利要求1所述的存储器件,其中,当从所述第二冗余块所读取的至少第一数据具有第一逻辑值或从正常区域和第一冗余块所读取的至少第二数据具有第二逻辑值时,所述存储器件被配置为使得控制电路确定错误被包括在采用所述第二冗余块替换所述第二失效块的结果中。

4.根据权利要求1所述的存储器件,其中,控制电路参考所述映射表来选择所述冗余区域中的除了所述第一冗余块之外的第二冗余块。

5.根据权利要求1所述的存储器件,其中,所述正常区域包括多个正常子区域,并且所述第一失效块和所述第二失效块中的每个位于所述正常子区域的对应子区域中,以及

其中,所述冗余区域包括多个冗余子区域,并且所述第一冗余块和所述第二冗余块中的每个位于所述冗余子区域中的对应冗余子区域中。

6.根据权利要求1所述的存储器件,其中,所述控制电路还包括测试模式寄存器,以及

其中,当接收到与存储器件的测试模式相对应的命令信号和地址信号时,激活测试模式寄存器。

7.根据权利要求1所述的存储器件,其中,所述控制电路被配置为将所述地址信号转换为第一内部地址并且将数据信号转换为第一内部数据信号,以通过所述第一内部地址信号和所述第一内部数据信号来访问所述正常区域,以及

其中,所述控制电路被配置为将所述地址信号转换为第二内部地址信号并且将所述数据信号转换为第二内部数据信号,以通过所述第二内部地址信号和所述第二内部数据信号来访问所述冗余区域。

8.根据权利要求1所述的存储器件,其中,所述第一逻辑值是1,而所述第二逻辑值是0。

9.根据权利要求1所述的存储器件,其中,所述第一逻辑值是0,而所述第二逻辑值是1。

10.根据权利要求1所述的存储器件,其中,所述第一失效块包括正常区域中与第一字线连接的一个或多个失效存储单元,而所述第二失效块包括正常区域中连接到第二字线的一个或多个失效存储单元。

11.根据权利要求10所述的存储器件,其中,所述第一冗余块的冗余存储单元连接到冗余区域中的第三字线,而所述第二冗余块的冗余存储单元连接到冗余区域中的第四字线。

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